红外与激光工程, 2015, 44 (3): 1048, 网络出版: 2016-01-26
光学薄膜参数测量方法研究
Study on optical thin film parameters measurement method
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李凯朋, 王多书, 李晨, 王济州, 董茂进, 张玲. 光学薄膜参数测量方法研究[J]. 红外与激光工程, 2015, 44(3): 1048. Li Kaipeng, Wang Duoshu, Li Chen, Wang Jizhou, Dong Maojin, Zhang Ling. Study on optical thin film parameters measurement method[J]. Infrared and Laser Engineering, 2015, 44(3): 1048.
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