光谱学与光谱分析, 2020, 40 (5): 1565, 网络出版: 2020-12-10
利用光谱趋势参数快速判定小麦粉DON等级的研究
The Study on Quickly Determining DON Level in Wheat Flour by Trend Parameter of Spectra
基本信息
| DOI: | 10.3964/j.issn.1000-0593(2020)05-1565-04 |
| 中图分类号: | O433.4 |
| 栏目: | |
| 项目基金: | 国家自然科学基金项目(U1604234, 31772118), 江苏省农业科技自主创新资金项目(CX(17)1003)资助 |
| 收稿日期: | 2019-04-04 |
| 修改稿日期: | 2019-08-02 |
| 网络出版日期: | 2020-12-10 |
| 通讯作者: | 陈坤杰 (kunjiechen@njau.edu.cn) |
| 备注: | -- |
吴威, 祖广鹏, 陈桂云, 徐剑宏, 陈坤杰. 利用光谱趋势参数快速判定小麦粉DON等级的研究[J]. 光谱学与光谱分析, 2020, 40(5): 1565. WU Wei, ZU Guang-peng, CHEN Gui-yun, XU Jian-hong, CHEN Kun-jie. The Study on Quickly Determining DON Level in Wheat Flour by Trend Parameter of Spectra[J]. Spectroscopy and Spectral Analysis, 2020, 40(5): 1565.
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