光谱学与光谱分析, 2020, 40 (5): 1565, 网络出版: 2020-12-10  

利用光谱趋势参数快速判定小麦粉DON等级的研究

The Study on Quickly Determining DON Level in Wheat Flour by Trend Parameter of Spectra
作者单位
1 南京农业大学工学院, 江苏 南京 210031
2 江苏省农业科学院食品质量安全与检测研究所, 江苏 南京 210014
引用该论文

吴威, 祖广鹏, 陈桂云, 徐剑宏, 陈坤杰. 利用光谱趋势参数快速判定小麦粉DON等级的研究[J]. 光谱学与光谱分析, 2020, 40(5): 1565.

WU Wei, ZU Guang-peng, CHEN Gui-yun, XU Jian-hong, CHEN Kun-jie. The Study on Quickly Determining DON Level in Wheat Flour by Trend Parameter of Spectra[J]. Spectroscopy and Spectral Analysis, 2020, 40(5): 1565.

参考文献

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