基于背景校正和图像分割定量分析光学元件表面疵病的新算法

张博; 倪开灶; 王林军; 刘世杰*; 吴伦哲

doi:doi:10.3788/aos201636.0911004

光学学报, 2016, 36 (9): 0911004, 网络出版: 2016-09-09

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New Algorithm of Detecting Optical Surface Imperfection Based on Background Correction and Image Segmentation

张博 ^1,2,*倪开灶 ²王林军 ¹刘世杰* ²吴伦哲 ^1,2

作者单位

¹ 上海大学材料科学与工程学院，上海 200444

² 中国科学院上海光学精密机械研究所强激光材料重点实验室，上海 201800

图 & 表

张博, 倪开灶, 王林军, 刘世杰*, 吴伦哲. 基于背景校正和图像分割定量分析光学元件表面疵病的新算法[J]. 光学学报, 2016, 36(9): 0911004. Zhang Bo, Ni Kaizao, Wang Linjun, Liu Shijie, Wu Lunzhe. New Algorithm of Detecting Optical Surface Imperfection Based on Background Correction and Image Segmentation[J]. Acta Optica Sinica, 2016, 36(9): 0911004.