中国激光, 2018, 45 (12): 1211002, 网络出版: 2019-05-09
基于激光诱导击穿光谱技术的铜铟镓硒纳米薄膜的分析探测研究 
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Analytical Investigation of Cu(In, Ga)Se2 Thin Films Using Laser Induced reakdown Spectroscopy Technology
基本信息
| DOI: | 10.3788/CJL201845.1211002 |
| 中图分类号: | O657.3 |
| 栏目: | 光谱学 |
| 项目基金: | 山东省自然科学基金、国家自然科学基金、淄博市校城融合发展计划（2016ZBXC205）、 |
| 收稿日期: | 2018-06-21 |
| 修改稿日期: | 2018-07-11 |
| 网络出版日期: | 2019-05-09 |
| 通讯作者: | |
| 备注: | -- |
修俊山, 刘世明, 王琨琨, 付圣贵, 汪涛, 刘云燕. 基于激光诱导击穿光谱技术的铜铟镓硒纳米薄膜的分析探测研究[J]. 中国激光, 2018, 45(12): 1211002. Junshan Xiu, Shiming Liu, Kunkun Wang, Shenggui Fu, Tao Wang, Yunyan Liu. Analytical Investigation of Cu(In, Ga)Se2 Thin Films Using Laser Induced reakdown Spectroscopy Technology[J]. Chinese Journal of Lasers, 2018, 45(12): 1211002.
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