中国激光, 2018, 45 (12): 1211002, 网络出版: 2019-05-09
基于激光诱导击穿光谱技术的铜铟镓硒纳米薄膜的分析探测研究 
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Analytical Investigation of Cu(In, Ga)Se2 Thin Films Using Laser Induced reakdown Spectroscopy Technology
光谱学 激光诱导击穿光谱 薄膜分析 铜铟镓硒 磁控溅射 光学禁带宽度 spectroscopy laser induced breakdown spectroscopy thin film analysis Cu(In Ga)Se2 magnetron sputtering optical band gaps
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