光谱学与光谱分析, 2009, 29 (1): 268, 网络出版: 2009-12-09
X光电子谱辅助Raman光谱表征N含量对非晶金刚石薄膜的结构影响
XPS and Raman Spectral Analysis of Nitrogenated Tetrahedral Amorphous Carbon (ta-C:N) Films with Different Nitrogen Content
基本信息
| DOI: | 10.3964/j.issn.1000-0593(2009)01-0268-05 |
| 中图分类号: | O433.1 |
| 栏目: | |
| 项目基金: | 国家自然科学基金项目(50602012),哈尔滨市创新人才项目(2007RFQXG039)和黑龙江省博士后基金项目(LBH-Z07099)资助。 |
| 收稿日期: | 2007-10-26 |
| 修改稿日期: | 2008-01-16 |
| 网络出版日期: | 2009-12-09 |
| 通讯作者: | 陈旺寿 (chenwangshou123@163.com) |
| 备注: | -- |
陈旺寿, 朱嘉琦, 韩杰才, 田桂, 檀满林. X光电子谱辅助Raman光谱表征N含量对非晶金刚石薄膜的结构影响[J]. 光谱学与光谱分析, 2009, 29(1): 268. CHEN Wang-shou, ZHU Jia-qi, HAN Jie-cai, TIAN Gui, TAN Man-lin. XPS and Raman Spectral Analysis of Nitrogenated Tetrahedral Amorphous Carbon (ta-C:N) Films with Different Nitrogen Content[J]. Spectroscopy and Spectral Analysis, 2009, 29(1): 268.
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