光谱学与光谱分析, 2009, 29 (1): 268, 网络出版: 2009-12-09  

X光电子谱辅助Raman光谱表征N含量对非晶金刚石薄膜的结构影响

XPS and Raman Spectral Analysis of Nitrogenated Tetrahedral Amorphous Carbon (ta-C:N) Films with Different Nitrogen Content
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哈尔滨工业大学 复合材料与结构研究所,黑龙江 哈尔滨 150080
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