基于双色LED芯片的双波长像面数字全息显微术

邓丽军; 黄星艳; 曾吕明; 黄振; 刘国栋

doi:doi:10.3788/AOS201838.0111004

光学学报, 2018, 38 (1): 0111004, 网络出版: 2018-08-31

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Dual-Wavelength Image-Plane Digital Holographic Microscopy Based on Bi-Color LED Chips

邓丽军 ¹黄星艳 ²曾吕明 ¹黄振 ¹刘国栋 ^1,*

作者单位

¹ 江西科技师范大学江西省光电子与通信重点实验室, 江西南昌 330038

² 江西科技师范大学研究生院, 江西南昌 330038

图 & 表

图 1. 双色LED芯片的封装结构图。 (a)正视图;(b)俯视图;(c)电路图;(d)实物图

Fig. 1. Packaging structure of bi-color LED chips. (a) Front view; (b) top view; (c) circuit; (d) physical map

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图 2. 双色LED芯片的功率谱分布

Fig. 2. Power spectrum of bi-color LED chips

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图 3. 实验装置的光路图

Fig. 3. Optical path of experimental setup

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图 4. 彩色数字全息图。 (a)相移前;(b)相移后

Fig. 4. Colorful digital holograms. (a) Without phase shift; (b) with phase shift

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图 5. 两种波长的相移数字全息图。(a) 670 nm波长相移前;(b) 670 nm波长相移后;(c) 521 nm波长相移前;(d) 521 nm波长相移后

Fig. 5. Phase shifting digital holograms with two wavelengths. (a) Without phase shift at 670 nm; (b) with phase shift at 670 nm; (c) without phase shift at 521 nm; (d) with phase shift at 521 nm

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图 6. 通过两步相移算法重构的包裹相位图。 (a) 670 nm; (b) 521 nm

Fig. 6. Reconstructed wrap phase maps using two-step phase shifting algorithm. (a) 670 nm; (b) 521 nm

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图 7. 实验结果。 (a)含有相位畸变的双波长合成相位;(b)去除相位畸变的双波长合成相位;(c)被测样品的三维面型分布;(d)对比实验结果

Fig. 7. Experimental results. (a) Dual-wavelength phase map with phase distortion; (b) dual wavelength phase map without phase distortion; (c) 3D surface profile of the tested sample; (d) comparison of the measurement data

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图 8. 本文系统与分立光源测量系统的稳定性对比

Fig. 8. Comparison of stability between the proposed system and the system with two individual light sources

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表 1封装后双色LED芯片的光学性质

Table1. Optical properties of the utilized bi-color LED chips

Color	Central wavelength $\begin{matrix} {λ_{0}}_{} \end{matrix}$ /nm	$\begin{matrix} {w_{\frac{1}{2}}}_{} \end{matrix}$ /nm	Coherent length /μm	Luminous power /W
Green	521	28	9.69	1.90
Red	670	17	26.40	2.06

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邓丽军, 黄星艳, 曾吕明, 黄振, 刘国栋. 基于双色LED芯片的双波长像面数字全息显微术[J]. 光学学报, 2018, 38(1): 0111004. Lijun Deng, Xingyan Huang, Lüming Zeng, Zhen Huang, Guodong Liu. Dual-Wavelength Image-Plane Digital Holographic Microscopy Based on Bi-Color LED Chips[J]. Acta Optica Sinica, 2018, 38(1): 0111004.

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图 1. 双色LED芯片的封装结构图。 (a)正视图;(b)俯视图;(c)电路图;(d)实物图

Fig. 1. Packaging structure of bi-color LED chips. (a) Front view; (b) top view; (c) circuit; (d) physical map

图 2. 双色LED芯片的功率谱分布

Fig. 2. Power spectrum of bi-color LED chips

图 3. 实验装置的光路图

Fig. 3. Optical path of experimental setup

图 4. 彩色数字全息图。 (a)相移前;(b)相移后

Fig. 4. Colorful digital holograms. (a) Without phase shift; (b) with phase shift

图 5. 两种波长的相移数字全息图。(a) 670 nm波长相移前;(b) 670 nm波长相移后;(c) 521 nm波长相移前;(d) 521 nm波长相移后

Fig. 5. Phase shifting digital holograms with two wavelengths. (a) Without phase shift at 670 nm; (b) with phase shift at 670 nm; (c) without phase shift at 521 nm; (d) with phase shift at 521 nm

图 6. 通过两步相移算法重构的包裹相位图。 (a) 670 nm; (b) 521 nm

Fig. 6. Reconstructed wrap phase maps using two-step phase shifting algorithm. (a) 670 nm; (b) 521 nm

图 7. 实验结果。 (a)含有相位畸变的双波长合成相位;(b)去除相位畸变的双波长合成相位;(c)被测样品的三维面型分布;(d)对比实验结果

Fig. 7. Experimental results. (a) Dual-wavelength phase map with phase distortion; (b) dual wavelength phase map without phase distortion; (c) 3D surface profile of the tested sample; (d) comparison of the measurement data

图 8. 本文系统与分立光源测量系统的稳定性对比

Fig. 8. Comparison of stability between the proposed system and the system with two individual light sources

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图 4. 彩色数字全息图。 (a)相移前;(b)相移后

Fig. 4. Colorful digital holograms. (a) Without phase shift; (b) with phase shift

图 5. 两种波长的相移数字全息图。(a) 670 nm波长相移前;(b) 670 nm波长相移后;(c) 521 nm波长相移前;(d) 521 nm波长相移后

Fig. 5. Phase shifting digital holograms with two wavelengths. (a) Without phase shift at 670 nm; (b) with phase shift at 670 nm; (c) without phase shift at 521 nm; (d) with phase shift at 521 nm

图 6. 通过两步相移算法重构的包裹相位图。 (a) 670 nm; (b) 521 nm

Fig. 6. Reconstructed wrap phase maps using two-step phase shifting algorithm. (a) 670 nm; (b) 521 nm

图 7. 实验结果。 (a)含有相位畸变的双波长合成相位;(b)去除相位畸变的双波长合成相位;(c)被测样品的三维面型分布;(d)对比实验结果

Fig. 7. Experimental results. (a) Dual-wavelength phase map with phase distortion; (b) dual wavelength phase map without phase distortion; (c) 3D surface profile of the tested sample; (d) comparison of the measurement data

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