发光学报, 2015, 36 (4): 466, 网络出版: 2015-04-14   

Si(111)衬底切偏角对GaN基LED外延膜的影响

Influence of Substrate Miscut on Properties of GaN-based LED Films Grown on Si(111)
作者单位
1 南昌大学 国家硅基LED工程技术研究中心, 江西 南昌 330047
2 南昌大学 材料科学与工程学院, 江西 南昌 330031
引用该论文

武芹, 全知觉, 王立, 刘文, 张建立, 江风益. Si(111)衬底切偏角对GaN基LED外延膜的影响[J]. 发光学报, 2015, 36(4): 466.

WU Qin, QUAN Zhi-jue, WANG Li, LIU Wen, ZHANG Jian-li, JIANG Feng-yi. Influence of Substrate Miscut on Properties of GaN-based LED Films Grown on Si(111)[J]. Chinese Journal of Luminescence, 2015, 36(4): 466.

引用列表
1、 蓝区无机薄膜电致发光材料研究进展中国光学, 2017, 10 (1): 13

武芹, 全知觉, 王立, 刘文, 张建立, 江风益. Si(111)衬底切偏角对GaN基LED外延膜的影响[J]. 发光学报, 2015, 36(4): 466. WU Qin, QUAN Zhi-jue, WANG Li, LIU Wen, ZHANG Jian-li, JIANG Feng-yi. Influence of Substrate Miscut on Properties of GaN-based LED Films Grown on Si(111)[J]. Chinese Journal of Luminescence, 2015, 36(4): 466.

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