Measurement of absolute phase shift on reflection of thin films using white-light spectral interferometry | Chinese Optics Letters -- 中国光学期刊网

Chinese Optics Letters, 2009, 7 (5): 05446, Published Online: May. 22, 2009

Measurement of absolute phase shift on reflection of thin films using white-light spectral interferometry

Hui Xue Weidong Shen Peifu Gu Zhenyue Luo Yueguang Zhang Xu Liu

Author Affiliations

State Key Laboratory of Modern Optical Instrumentation, Zhejiang University, Hangzhou 310027, ChinaE-mail: xuehui1223@126.com

光学薄膜白光干涉系统绝对光谱相位 310.0310 Thin films 310.6860 Thin films, optical properties 260.5430 Polarization

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