光电工程, 2013, 40 (6): 37, 网络出版: 2013-08-05
基于格莱姆-施密特正交化两步相移轮廓术
Two-step Phase-shifting Profilometry Based on Gram-Schmidt Orthonormalization
基本信息
DOI: | 10.3969/j.issn.1003-501x.2013.06.007 |
中图分类号: | O348;O43 |
栏目: | 光电测量与检测 |
项目基金: | 山东省中青年科学家奖励基金 (2006BS04015)、 山东省科技攻关项目 (2007GG30004010)、 国家自然科学基金 (11172054)资助 |
收稿日期: | 2013-02-20 |
修改稿日期: | 2013-04-10 |
网络出版日期: | 2013-08-05 |
通讯作者: | 周灿林 (canlinzhou@sdu.edu.cn) |
备注: | -- |
周灿林, 司书春, 高成勇, 徐建强, 雷振坤. 基于格莱姆-施密特正交化两步相移轮廓术[J]. 光电工程, 2013, 40(6): 37. ZHOU Canlin, SI Shuchun, GAO Chengyong, XU Jianqiang, LEI Zhenkun. Two-step Phase-shifting Profilometry Based on Gram-Schmidt Orthonormalization[J]. Opto-Electronic Engineering, 2013, 40(6): 37.