光电工程, 2013, 40 (6): 37, 网络出版: 2013-08-05
基于格莱姆-施密特正交化两步相移轮廓术
Two-step Phase-shifting Profilometry Based on Gram-Schmidt Orthonormalization
相移法 相位测量轮廓术 变形光栅图 相位去包裹 格莱姆 -施密特正交化法 phase-shifting algorithm phase measuring profilometry (PMP) deformed fringe pattern phase unwrapping Gram–Schmidt (GS) orthonormalization
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