强激光与粒子束, 2016, 28 (8): 28084001, 网络出版: 2016-07-26
基于状态分析的电子系统抗辐射性能评估方法
Method for evaluating radiation harden performance of electronic system based on system status
基本信息
DOI: | 10.11884/hplpb201628.150695 |
中图分类号: | TL71 |
栏目: | 粒子束技术 |
项目基金: | -- |
收稿日期: | 2015-11-28 |
修改稿日期: | 2016-01-21 |
网络出版日期: | 2016-07-26 |
通讯作者: | 韩峰 (hanfeng@nint.ac.cn) |
备注: | -- |
韩峰, 刘钰, 王斌. 基于状态分析的电子系统抗辐射性能评估方法[J]. 强激光与粒子束, 2016, 28(8): 28084001. Han Feng, Liu Yu, Wang Bin. Method for evaluating radiation harden performance of electronic system based on system status[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2016, 28(8): 28084001.