基于状态分析的电子系统抗辐射性能评估方法

韩峰; 刘钰; 王斌

doi:doi:10.11884/hplpb201628.150695

强激光与粒子束, 2016, 28 (8): 28084001, 网络出版: 2016-07-26

基于状态分析的电子系统抗辐射性能评估方法

Method for evaluating radiation harden performance of electronic system based on system status

韩峰 ^1,*刘钰 ¹王斌 ²

作者单位

¹ 西北核技术研究所, 强脉冲辐射环境模拟与效应国家重点实验室，西安 710024

² 上海航天电子技术研究所, 上海 201109

图 & 表

韩峰, 刘钰, 王斌. 基于状态分析的电子系统抗辐射性能评估方法[J]. 强激光与粒子束, 2016, 28(8): 28084001. Han Feng, Liu Yu, Wang Bin. Method for evaluating radiation harden performance of electronic system based on system status[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2016, 28(8): 28084001.