中国激光, 2021, 48 (3): 0301002, 网络出版: 2021-02-02   

单频激光宽频段频率和强度噪声测量技术 下载: 1408次

Measurement Technique for Broadband Frequency and Intensity Noise of Single-Frequency Laser
作者单位
1 中国科学技术大学环境科学与光电技术学院, 安徽 合肥 230026
2 中国科学院安徽光学精密机械研究所光子器件与材料安徽省重点实验室, 安徽 合肥 230031
摘要
报道了一种mHz至MHz宽频段激光噪声的规范测量技术。通过研制基于迈克耳孙光纤干涉仪的相关延时自外差频率噪声测量装置和具有定标功能的光外差拍频测量装置,结合频谱分析仪和快速傅里叶变换分析仪等标准仪器,规范地测量出了单频激光在mHz至MHz宽频段内的频率和强度噪声特性,并验证了测量结果的准确性。该测量技术有望应用于引力波探测和精密测量等应用中的激光噪声评估。
Abstract

Objective In recent years, single-frequency lasers have been widely used in the fields of fiber communication, lidar, and fiber sensors due to their narrow linewidth and good stability. However, in high-precision applications, such as precise spectral measurement, gravitational-wave detection, and high-precision frequency transfer, noise characteristics are also important parameters and worth further optimization. High-precision measurement of single-frequency laser noise is the basis of laser noise analysis. So far, the current noise measurement method usually evaluates noise performance in a specific frequency band and hence it becomes difficult to cover the whole mHz to MHz frequency range. To realize broadband noise measurement, it is necessary to adopt segmented measurement schemes and use spectrum splicing techniques. However, there is still a lack of standard measurement schemes for obtaining the broadband noise spectrum. In this paper, a standard measurement technique for mHz to MHz broadband laser noise is reported.

Methods Among the various methods of frequency noise measurement, the optical heterodyne beat-frequency method is suitable for measuring low frequency noise, but the maximum measurement range is limited, and the correlation delay self-heterodyne measurement technique based on a fiber-type interferometer is quite suitable for high-frequency noise measurements above 1Hz. Therefore, a correlation delay self-heterodyne measurement system based on a fiber-type Michelson interferometer [Fig. 1(a)] is designed and developed for measuring high-frequency noise by suppressing environmental noise through passive control techniques such as sound insulation, vibration isolation, and temperature control, where the 10Hz--1MHz spectral range can be successfully measured. The optical heterodyne beat-frequency method [Fig. 1(b)] is used to measure low frequency noise by the beating of two self-developed DBR fiber lasers with similar performance, where a reference laser with calibrated frequency noise can be obtained. The laser to be tested is beating against the reference laser to achieve frequency noise measurements in the low frequency range of 1 mHz--100Hz. By using the direct average method, the spectra measured by these two methods can be spliced together smoothly, and the frequency noise measurement in the frequency range of 1 mHz--1 MHz can be ultimately realized.

For measuring relative intensity noise, the direct measurement method based on the electric spectrum analyzer is used in the high-frequency range, and the digital measurement method based on the digital multimeter and FFT analyzer is used for frequencies lower than 10kHz. Combining these two noise measurement techniques and using the gradual in and out spectrum splicing method, the relative intensity noise spectrum in the frequency range of 1 mHz--50MHz is obtained.

Results and Discussions Using the measurement schemes mentioned above, we evaluate the noise spectral characteristics of a single-frequency DBR fiber laser from NP photonics. We measure the frequency noise spectra with the developed correlation delay self-heterodyne method (Fig. 2) and beat frequency method (Fig. 3), respectively. And we measure the RIN spectra by the ESA [Fig. 5(a)] and FFT analyzer [Fig. 5(b)]. The measurement results are compared with the data provided by the supplier and the results reported in the related literature. At the same time, through mutual verification between different schemes, the reliability and accuracy of our measurement systems are verified. The frequency noise spectra (Fig. 4) and RIN spectra (Fig. 6) in the frequency range of mHz to MHz after spectrum splicing are obtained. It can be seen that the overlapping area in the spectrum shows a smooth curve without splicing traces. In addition, we also evaluate the broadband noise characteristics of our self-developed 1064 nm and 1560 nm single-frequency DBR fiber lasers. Compared with a commercial NP laser, our self-developed 1560 nm single-frequency DBR fiber laser shows better noise performance over a wide frequency range.

Conclusions A standard technique for measuring single-frequency laser frequency and intensity noise in an ultra-wide Fourier-frequency range from mHz to MHz is presented in this paper. We successfully measure both the frequency noise and intensity noise spectral characteristics of single-frequency lasers in a Fourier-frequency range of mHz to MHz, using two established measurement systems in conjunction, namely, a correlation delay self-heterodyne frequency noise measurement system based on a fiber-type Michelson interferometer and an optical heterodyne beat-note measurement system with calibration function, combined with common analysis instrument. The accuracy of our measurement results has been verified. This presented method may be used for laser noise evaluation in various applications such as gravitational-wave detection and precision measurement.

1 引言

随着单频激光在精密测量[1]、相干通信[2]、激光雷达[3]和光学传感[4]等领域越来越广泛的应用,人们逐渐开始重视其噪声性能。在高灵敏光学测量中,需要激光源具有极低的强度噪声,以获取高信噪比[5];在相干精密测量中,激光频率噪声则直接决定了探测灵敏度[6]。精确测量与评估激光噪声性能是噪声抑制的基础和前提,迄今,人们已发展出了多种噪声测量方案[7-14]。对于强度噪声测量,通过采用低噪声光电探测器、由电学频谱分析仪(ESA)直接分析探测到的电信号[7-8]、由快速傅里叶变换(FFT)分析仪[9]或数字万用表(DMM)记录电信号的时间变化[10]等方法,可获得相对强度噪声(RIN)的功率谱。对于频率噪声测量,一般通过构建的高稳定光学干涉仪,记录外差干涉信号的相位随时间的波动,再由干涉仪测量系统的相位传递函数,反推出待测激光的相位或频率噪声[11]。为精确测量激光的相位波动,人们一直在着力提升干涉仪的稳定度,还发展出了多种相位解调技术,以抑制环境扰动对干涉仪测量稳定性的影响。例如,在相位载波解调[12]技术中,通过主动反馈控制压电陶瓷(PZT),使干涉仪工作在正交状态,从而补偿环境扰动对干涉仪臂长差的影响;也可将干涉仪中分光合束器件改成3×3耦合器[13-14],其三路耦合输出端口之间的相位差稳定在120°的特点,使得无需利用主动反馈控制就可滤除环境扰动对干涉仪臂长差的影响;还可采用所谓的相关延时自外差技术[15],通过在干涉仪中引入声光调制器(AOM),将干涉信号的频率移动至射频(RF)波段,以抑制低频环境扰动对干涉仪稳定性的影响。但是,在Hz以下的分析频率段,频率噪声测量要求干涉仪臂长差长达数千米。而随着干涉仪臂长的增加,环境噪声对干涉仪稳定性的影响将难以被有效消除,基于干涉仪的频率噪声测量方法只能评估出Hz以上频段的噪声水平[16]。随着引力波探测和新型精密测量应用需求的发展[17],需要精确评估激光源低至mHz频段的频率噪声行为[18],为此,人们将传统外差拍频方法应用到低频段激光频率噪声测量中[15],但是,该方法要求被测激光源为两台特性几乎完全相同的激光器,或者至少一台为已知低频率噪声的参考激光源,这给采用该方案精确测量频率噪声带来了困难。不仅如此,这种光外差拍频技术受测试仪器的采样速率的限制,只适合评估100Hz以下频段的频率噪声,不能满足高频段噪声的测量需求。因此,为准确测量出mHz至MHz宽频段的完整频率和强度噪声性能,必须综合运用多种噪声测量方案。但是,采用不同方案进行分段测量时所用仪器的性能存在差异,因此需要将由不同方法分段测量获得的强度和频率噪声谱进行拼接,以便高精度地评估出单频激光的完整强度和频率噪声谱特性。

本文将展示一种旨在获取mHz至MHz宽频段激光频率和强度噪声特性的分频段噪声测量规范。在该测量规范下,将研制基于迈克耳孙光纤干涉仪的相关延时自外差频率噪声测量装置和能对噪声进行定标的光外差拍频测量装置,结合ESA和FFT分析仪等标准仪器,最终实现对单频激光的宽频段频率(mHz至MHz)和强度噪声的测量。此外,对该噪声测量规范的有效性和准确度也进行了讨论和验证。

2 测量方案与仪器研制

高精度频率噪声测量需要高度稳定的干涉仪。图1(a)为研制的相关延时自外差频率噪声测量系统的光纤干涉仪结构示意图,为基于标准单模光纤的迈克耳孙光纤干涉仪。选取迈克耳孙干涉仪的原因是:在相同探测灵敏度下,迈克耳孙干涉仪所需延迟光纤的长度仅为马赫-曾德尔干涉仪的一半[11],从而使得测量系统受外界环境扰动的影响更小。干涉仪一臂中加入了一只频移量为200MHz的声光调制器(AOM),从而可在400MHz射频波段检测外差干涉信号,以克服零频检测受环境扰动影响大的缺点。考虑到待测激光在不同长度光纤构成的干涉仪两臂中传输时会因双折射引起的相位延迟量不同导致外差干涉信号检测中的偏振衰落,干涉仪两臂的反射镜均采用了法拉第旋转镜(FRM),以补偿这种偏振衰落。干涉仪由50∶50光纤耦合器分光,直通和延时臂光纤长度分别为1m和101m,对应的臂长差为100m。由该臂长差决定的干涉仪测量带宽可达420kHz[13,19],该臂长差还确保待测噪声经干涉仪系统转换成的相位噪声幅度较大,这有利于提升鉴相精度。为此,专门选用了基于平绕环圈和阻尼减震且整体密封的盒装结构的光纤延时模块。将构成干涉仪的光纤及器件机械固定在壁厚为8mm的260mm×260mm×200mm密闭铝盒中,铝盒外表覆有隔音毛毡和隔热棉,并带有主动温度控制,实测盒内温度控制波动小于10mK,铝盒对外界声波的抑制达40dB。将封装后的干涉仪放置在被动隔振平台(100BM-4,Minus K)上,该平台对2~100Hz内振动加速度的衰减达30dB以上。待测激光经干涉仪产生的外差信号由光电探测器(PD,ET3000A,EOT)探测,再由频谱分析仪(ESA, N9030A,Keysight)记录分析。在该测量系统研制中,通过在干涉仪两臂中加入相同的100m长光纤延时线模块,并将臂长差控制在0.05m以内,可实现对测量系统的本底噪声的评估。这时,因干涉仪两臂臂长和所用光纤相同,激光频率抖动在两臂上累积的相位几乎一致,检测到的外差干涉信号的相位噪声将不再包含待测激光本身的相位噪声,仅为干涉仪探测系统的本底噪声。实测的频率噪声测量系统的本底噪声为10-2Hz2/Hz@10Hz、10-3Hz2/Hz@1kHz和0.025Hz2/Hz@1MHz,均远低于迄今报道的单频激光器在相应频段的频率噪声水平[11]。所采用的多种稳定措施使得干涉仪的附加相位噪声低,且测量系统所用频谱分析仪的相位测量灵敏度高,经实验测量发现,测量系统在接近干涉仪的理论测量带宽上限1MHz处依然具有足够高的鉴相精度,从而使得该测量系统可实现对高达1MHz频率噪声的测量。因此,该频率噪声测量系统可满足[10Hz, 1MHz]范围的频率噪声评估。基于该方案分别搭建了1μm与1.5μm波段的干涉仪系统,以实现多波段的单频激光频率噪声评估。

图 1. 频率噪声测量系统示意图。(a) 基于迈克耳孙光纤干涉仪的相关延时自外差测量;(b) 外差拍频测量

Fig. 1. Schematic diagrams of frequency noise measurement system. (a) Correlation delay self-heterodyne measurement based on fiber-type Michelson interferometer; (b) heterodyne beat-frequency measurement

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针对10Hz以下频段的频率噪声测量,设计研制了两台性能几乎完全相同的分布Bragg反射(DBR)单纵模光纤激光器。这两台激光器的增益光纤、光纤光栅以及腔长几乎完全一致,其制作工艺和封装温控也完全相同,因此二者具有相似的噪声行为。利用图1(b)所示的外差拍频法测量系统,先测量出这两台DBR光纤激光器的低频段频率噪声谱。根据平方和噪声叠加原理[20],每台激光器的噪声功率谱密度为实测噪声功率谱密度的1/ 2,从而得到标定了频率噪声的参考激光源。再将该参考激光与待测激光按照图1(b)所示方法进行外差拍频测量,同样根据平方和噪声叠加原理,获得待测激光的频率噪声谱。在图1(b)所示的外差拍频测量系统中,光纤耦合器的耦合比为50∶50,光电探测器(PD,ET3000A,EOT)的带宽为1.5GHz,6GHz的频率计数器(FC,53220A,Agilent)用于记录拍频信号频率随时间的变化,由FFT算法得到频率噪声功率谱。该测量系统的频率噪声谱测量范围由频率计数器的计数速率和总测量时间共同决定,所用频率计数器在外部存储模式下的最大频率计数速率约为200Hz,根据奈奎斯特定理,傅里叶变换决定的频率噪声功率谱测量的上限频率为100Hz,而通过增大总测量时间(如大于1000 s)可实现对低至1mHz处的频率噪声功率谱的测量。

在激光的RIN测量中,利用低噪声光电探测器(PD,PDA-10CF-EC,Thorlabs)将RIN转换成电信号后,由ESA直接测量RIN功率谱。所用的ESA在GHz高频段的噪声极低(-171dBm@1GHz),但其在10kHz以下频段的噪声相对较高,从而适用于10kHz以上频段的RIN分析。所用探测器的带宽为150MHz,对于大多数单频激光,其RIN在150MHz分析频率处时早已接近散粒噪声极限。10kHz以下频段的RIN谱由FFT分析仪或基于DMM的方法测量。所用 FFT分析仪(SR770,Stanford Research Systems)带有高精度的16位模数转换器(ADC)和具有滤波、外差以及傅里叶变换等运算功能的数字信号处理器(DSP),可方便地实现低至mHz(最低约476μHz)处的RIN测量,但受其ADC采样速率的限制,难以实现100kHz以上频段的RIN评估;同样地,DMM则通过记录电信号电压随时间的变化,再由FFT算法计算出RIN功率谱,这与频率计数器对低频频率噪声的测量相似,从而确保在较长的总测量时间内可评估低至1mHz处的RIN功率谱,但受DMM(GDM-9060,Gwinstek)电压计数速率的限制,可测量的最大RIN功率谱范围为100Hz。RIN中的直流分量大小由DMM长期观测得到的电压均值确定。实际测得的RIN功率谱均已扣除测量系统本身的本底噪声。

在上述噪声测量方案中,频率和强度噪声均由不同测量方案的分段测量获得,因此,需对测得的不同频段噪声谱进行频谱拼接。基于干涉仪的相关延时自外差测量系统有效抑制了环境噪声,且利用性能几乎完全相同的两台激光器定标了光外差拍频测量所需的已知参考激光器,这使得这两套系统测得的高低频段噪声谱在重叠区域的幅度差异小,且无明显阶跃。因而,在频率噪声谱拼接中可采用直接平均法进行频谱拼接,即保留非重叠区域实测的各自频谱值,重叠区域频谱值由直接平均值替代。而对于强度噪声谱的拼接,所用仪器的测量精度不同,导致了测得的噪声谱在重叠区域存在一定的差值,频谱拼接时选用了渐入渐出拼接法[21],这时可保留不同方法实测的非重叠区域频谱值,但在重叠区域,则由该区域对应的频率上下限fmaxfmin分别构造出对应低频段和高频段噪声谱RINLO(f)和RINHI(f)的加权因子σ1(f)=(fmax-f)/(fmax-fmin)和σ2(f)=1-σ1(f),再由RIN(f)=σ1(f)·RINLO(f)+σ2(f)·RINHI(f)计算出重叠区域的频谱数据。

3 测试结果与讨论

选取NP Photonics公司商售的1064nm单频DBR光纤激光器作为待测光源,厂家已给出该激光源在若干典型傅里叶频率处的噪声数据,从而便于通过比对来考查本文测量系统所测结果的可信度。首先,利用研制的基于迈克耳孙干涉仪的频率噪声测量系统,测量出[10Hz, 1MHz]频段内的频率噪声谱,结果如图2所示,该频率噪声谱已扣除了干涉仪系统本底相位噪声。由图可见,随着分析频率由10Hz逐渐增大至106Hz,频率噪声呈现出接近于1/f的下降趋势,这与文献[ 22]报道的结果相吻合;频率噪声谱中100Hz~2kHz处的零乱尖峰源于残余声学噪声的影响[23]。通过与厂家给出的10Hz、100Hz、1kHz、10kHz和100kHz处的频率噪声值进行对比可见,本文测量系统的所得结果与厂家数据一致,表明在构建干涉仪系统时采取的隔声、隔振、温控等抑制环境扰动措施有效,这些措施确保了干涉仪受本底噪声的影响小、测量结果准确可信。

图 2. 基于相关延时自外差法测得的频率噪声谱,其中菱形点为厂家提供的数据

Fig. 2. Frequency noise spectrum measured with correlation delay self-heterodyne method. Diamond points show data provided by supplier

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图3中的虚线为采用外差拍频法测得的研制的两台1064nm参考激光器在[1mHz, 100Hz]频段的频率噪声谱,可见,在1mHz~100Hz范围内,参考激光器的频率噪声水平由7×106Hz-1/2缓慢下降至2×102Hz-1/2。值得注意的是,因两台激光器的性能几乎完全相同,这种方法测得的参考激光器的频率噪声谱相当于已对其噪声进行了定标后的频率噪声谱。参考激光器的噪声水平与目前低噪声单频激光器的噪声水平相当(因确保这两台激光器性能几乎完全一致,故未对其噪声专门进行抑制),因此可用于外差拍频测量、获取待测激光的噪声。利用这两台参考激光源,再通过外差拍频法对待测激光的频率噪声谱进行测试,图3中的点线和实线分别为两台参考激光器测得的待测激光在[1mHz, 100Hz]范围内的频率噪声谱。可见,采用这两台参考激光器测得的待测激光频率噪声谱几乎完全一致,表明所研制的两台参考激光器的性能具有很好的一致性,这不仅确保了由外差拍频法对参考激光器的频率噪声谱进行定标的准确性,而且也保证了由它们作为参考激光测量待测激光频率噪声谱的准确性。由图3还可看出,在[1mHz,100Hz]频段内,待测激光的频率噪声由7×106Hz-1/2以1/f趋势缓慢下降至102Hz-1/2,这与文献[ 10]报道的结果也相符,从而也表明了本文测量系统的低频段频率测量结果的可信性。

图 3. 由光外差拍频法测得的低频段频率噪声谱

Fig. 3. Frequency noise spectra measured with optical heterodyne beat-frequency method

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通过比较图2图3所示的频率噪声谱,发现两种测量方法测得的频率噪声谱在10Hz~100Hz内基本一致,这既印证了高低频段测量系统本身的优良特性,也证实可以采用直接平均法进行频谱拼接。图4中实线为基于分段测量结果并由直接平均法进行频谱拼接后获得的待测激光器在1mHz~1MHz宽频段的频率噪声谱,可见, 10~100Hz重叠区域的噪声谱展现了无拼接痕迹的光滑谱曲线。图4也给出了自主研制的1064nm(虚线)和1560nm(点线)DBR光纤激光器的全频段频率噪声功率谱,其中,自制的1560nm激光器的输出功率低,为评估频率噪声,在自制激光器内嵌入一个光纤放大器,相较于商售的1064nm激光器,所研制的1064nm激光器在0.05~200Hz中低频段的噪声水平略高,这可能是由未充分抑制振动、声波等技术噪声所致。但是,所研制的1560nm激光器在全频段展现出了比商售和自研的1064nm激光器更佳的频率噪声性能。

图 4. 1mHz~1MHz频率范围内的频率噪声谱

Fig. 4. Measured frequency noise spectrum in frequency range of 1mHz--1MHz

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图5(a)为采用ESA测得的已扣除测量系统本底噪声后的商用待测1064nm激光器在[10kHz,50MHz]内的RIN功率谱。可见,弛豫振荡峰出现在1MHz附近;低于1MHz时,RIN处在1×10-7~3×10-7Hz-1/2水平;高于1MHz时,RIN随分析频率的增大而降低;频率增大至 20MHz时,RIN接近散粒噪声极限2×10-8 Hz-1/2图5(a)中也给出了厂家提供的若干典型傅里叶频率处的RIN值(圆点),可见,本文测量结果与厂家提供的RIN数据一致,表明基于ESA的测量方法所得结果的准确性。图5(b)为分别采用FFT分析仪和DMM方法测得的待测激光在低频段的RIN功率谱,图示结果同样也已扣除了测量系统的本底噪声。由图可见,采用FFT分析仪可以测得[1mHz, 100kHz]频段内的RIN谱,在1mHz~0.05Hz频段,受低频环境温度漂移等影响[24],RIN谱基本处在1.5×10-2~ 2×10-2Hz-1/2水平;随着傅里叶频率由0.05Hz增大至1kHz,RIN同样以1/f的趋势逐渐减小至10-7Hz-1/2,且在100Hz~2kHz范围也出现了残余声学噪声引起的尖峰;而高于1kHz后,测得的RIN处在1×10-7~2× 10-7Hz-1/2水平,与图5(a)中ESA方法在该频段测得的RIN水平接近。虽然无厂家数据用于与测得的待测激光低于100kHz的低频段结果的比对,但FFT方法与ESA方法在[10kHz,100kHz]频段内测得结果的一致性,也可间接地表明FFT分析仪所得结果的可信度。不仅如此,还可将FFT分析仪方法所得结果与DMM测量结果进行比对,以进一步验证所得结果的可信性。尽管DMM因受电压计数速率的限制,只能测得[1mHz,100Hz]频段的RIN谱,但在该频段,采用FFT分析仪和采用DMM方法所得的测量结果完全一致,这也从侧面表明本文测得的待测激光在低频段的RIN的可信性。

图 5. 相对强度噪声谱。(a)基于ESA测得的RIN谱,其中圆点为厂家提供的数据;(b)基于FFT分析仪与DMM测得的RIN谱

Fig. 5. RIN spectra. (a) Measured RIN spectrum with ESA. Dots show data provided by supplier; (b) measured RIN spectra with FFT analyser and DMM

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FFT分析仪相较DMM方法所能测量的RIN谱的最大傅里叶频率更高,从而利于实现FFT分析仪测得的RIN谱与ESA方法测得的RIN谱之间的高精度频谱拼接。通过在104~105Hz重叠区域应用前述渐入渐出的拼接算法,容易得到待测激光器在1mHz~50MHz宽频段内的相对强度噪声谱,如图6中实线所示。可见,在重叠区域,两端拼接处RIN谱过渡平滑,无拼接痕迹。实现无缝拼接的原因是本文测量已扣除了ESA和FFT测量系统本身的本底噪声,导致两种测量在重叠区域的RIN水平相差无几,且走势一致,但是两台测量设备的测量精度不同,使得采用渐入渐出的拼接法可以获取无拼接痕迹的全频段相对强度噪声功率谱。此外,图6中还给出了自主研制的1064nm(虚线)和1560nm(点线)DBR光纤激光器在宽频段内的RIN功率谱,因商用1064nm光纤激光器采用的是大增益磷酸盐增益光纤,弛豫振荡峰处在1.1MHz处,低于所研制的1064nm硅酸盐增益光纤激光器的弛豫振荡峰所处的频率(1.5MHz),且前者的强度噪声低于后者;但是,得益于高Q值的腔结构设计,自研的1560nm光纤激光器的总体噪声性能最优,弛豫振荡频率也最低[25],并且放大后的噪声性能也未见明显变化。

图 6. 1mHz--50MHz频段范围内的相对强度噪声谱

Fig. 6. Measured RIN spectra in frequency range of 1mHz--50MHz

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4 结论

宽频段激光频率和强度噪声难以由单一测量技术进行评估,必须运用不同测量方案的分段测量和频段拼接来获取。一种有效的宽频段噪声测量规范是:采用基于参考激光的光外差拍频法和基于光纤干涉仪的相关延时自外差法分别测量出低频段和高频段频率噪声谱,再通过直接平均法进行频段拼接,从而获得mHz至MHz宽频段的频率噪声特性;通过采用FFT分析仪和ESA分别测量低频段和高频段RIN谱,再由渐入渐出拼接法获得mHz至MHz宽频段RIN谱。根据该测量规范,研制了一种基于迈克耳孙光纤干涉仪的高精度相关延时自外差频率噪声测量装置,并研制出两只性能相同的光纤激光器,经噪声定标后构建出了外差拍频测量装置,结合ESA和FFT分析仪等标准仪器,实现了对单频激光的[mHz,MHz]宽频段频率和强度噪声的测量。通过将测量结果与厂家数据进行对比,验证了该宽频段噪声测量规范的有效性和准确度,这为引力波探测和新型精密测量应用中的激光噪声评估提供了一种参考。

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