光子学报, 2006, 35 (10): 1608, 网络出版: 2010-06-03  

压印光刻中的两步对正技术

A Novel Two-Step Alignment Technique for Imprint Lithography
作者单位
西安交通大学机械制造系统工程国家重点实验室,西安 710049
引用该论文

王莉, 卢秉恒, 丁玉成, 刘红忠. 压印光刻中的两步对正技术[J]. 光子学报, 2006, 35(10): 1608.

Wang Li, Lu Bingheng, Ding Yucheng, Liu Hongzhong. A Novel Two-Step Alignment Technique for Imprint Lithography[J]. ACTA PHOTONICA SINICA, 2006, 35(10): 1608.

参考文献

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王莉, 卢秉恒, 丁玉成, 刘红忠. 压印光刻中的两步对正技术[J]. 光子学报, 2006, 35(10): 1608. Wang Li, Lu Bingheng, Ding Yucheng, Liu Hongzhong. A Novel Two-Step Alignment Technique for Imprint Lithography[J]. ACTA PHOTONICA SINICA, 2006, 35(10): 1608.

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