基于电子倍增的高光谱成像链模型的系统信噪比分析 下载: 1004次
1 引言
光谱成像技术结合光谱处理技术和成像技术的多维信息获取处理技术[1],是光学成像技术的重要分支[2]。成像光谱仪是遥感探测的关键设备之一[3],能够对地物成像的同时,得到同一地物的光谱特征信息[4],在遥感探测领域正发挥着越来越重要的作用。成像光谱技术,在**领域,可识别伪装,可进行近海探测和反潜、地雷探测、导弹导引、**生产和使用情况调查;在民用领域,成像光谱设备既能用于农、林、水、土、矿等地球资源勘查、环境污染与灾害监测等方面[5-6],也可实现微量气体成分以及大气层垂直温度的探测等,为气象、地球物理等领域提供了大量的数据信息[7-8]。
光谱成像系统的应用效果非常依赖获取图像的信噪比(SNR)。但在低照度如仅有陆地能量的1/6~1/4海洋遥感条件下,特别是高空间分辨率下高光谱成像领域,受入射光能量、积分时间、光谱分辨率以及分光元件透过率的影响,仪器的信噪比受到较大的制约[9]。由于光谱成像包含了空间和光谱两维信息,不能使用时间延迟积分(TDI)模式来解决光能量弱问题。色散式存在狭缝,分光的效率较低,仍然无法完全有效利用全部入射光能量。早期的干涉式成像光谱仪在入瞳处也需要狭缝,无法实现通光量最大化,不太适用于高速成像探测应用场合。其他新型光谱分光方式,通常采集周期长,存在对运动目标敏感的问题,如无法实现微弱信号下高光谱分辨率的成像探测[10]。基于电子倍增(EM)技术的低照度电子倍增电荷耦合器件(EMCCD)具有灵敏度高、信号增益高、噪声低、体积小、分辨力高、性能稳定的特点,可在全日光到星光的大范围照度条件下连续工作[11]。
信噪比表征成像光谱仪的辐射响应,是与其图像质量密切关联的重要参数。基于电子倍增的高光谱遥感包括电磁波谱能量的辐射传输、空间光学望远成像、光谱分光、探测器光电转换、电子倍增、包含模数(A/D)转换的视频处理、数字图像处理等环节。准确评估系统的信噪比应综合考虑辐射度学、光学和探测器特性等主要环节,找到成像链中的薄弱环节,尽可能准确地描述系统在轨工作时的性能[12]。
本文以色散型高光谱成像为例,首先建立高光谱遥感的成像链模型,采用LOWTRAN软件模拟计算大气辐射传输,分析高光谱光学成像中的能量传递,建立EMCCD的光电转换关系及其噪声特性,从而获得最终输出的数字化的信号和噪声;计算了不同太阳高角、地物反射率
2 成像链路模型
高光谱遥感的成像链模型如
在可见光和近红外谱段,地表物体自身几乎无辐射,发出的波谱主要以反射太阳辐射为主。因此入射到空间的高光谱成像系统的入瞳处辐亮度主要是由太阳高角、不同地物的光谱反射率决定。太阳作为辐射源,当到达地球附近的大气时被反射、吸收,其中能够达到地球表面的辐射为散射和直射的太阳辐射[13]。对于一年中任一天任一时刻到达成像光谱仪入瞳处的目标光谱辐亮度[14],具体参考文献[ 14]中的建模方法。
高光谱成像望远系统中使用的望远物镜的类型分为满孔径和局部遮挡卡塞格林式系统两种。对于满孔径式望远物镜,若望远物镜的口径为
对于卡塞格林望远物镜,主镜口径
则对于满孔径式望远物镜,光栅成像光谱仪在Δ
式中:
光谱信号经过探测器获得的电子数
式中:
3 信噪比分析
EMCCD噪声主要包括暗电流噪声、散粒噪声、复位噪声、时钟诱导噪声和倍增噪声,其中复位噪声可通过相关双采样技术消除,暗电流噪声成为高光谱成像暗场噪声的主要来源。暗电流噪声是由EMCCD内部热生电荷载流子产生,强烈依赖于EMCCD的表面温度,冷却可使热生电荷生成速率显著降低。将制冷系统应用于高光谱成像应用中,设置制冷温度,遮盖光谱仪入光镜头,测试不同温度下的暗背景噪声,可得到EMCCD暗噪声与温度的变化关系[15]。
如
图 2. 基于电子倍增的高光谱成像系统的信噪比模型。(a)电子倍增增益为1;(b)电子倍增增益大于1
Fig. 2. SNR model of hyperspectral imaging system based on electron multiplication. (a) Electron multiplication gain is 1;(b) electron multiplication gain is larger than 1
式中:当电子倍增增益为1时则
各种噪声的迭加遵循独立误差合成原理,其方差可表示为
当电子倍增增益为1时则
成像电路成像增益采用
则(8)式变换为
基于电子倍增的高光谱成像系统的成像增益
高光谱成像电路中视频处理器内部的模数转换器完成对视频信号的模数转换。在模数转换过程中不可避免地引入量化噪声。在空间遥感高光谱成像电路中使用的视频处理器内部的模数转换器属于1/2偏置型量化模数转换,采用了均匀量化方式,所以视频信号量化噪声服从均匀分布,均方差为
量化位数越高则量化噪声越小,更能真实地反映成像电路输出信号的信噪比,有利于提高成像信噪比。
经分析,可得到如下结论:
1)当输入的光谱信号能量足够强时,
而不使用电子倍增增益的信噪比可近似为
受电子倍增增益的额外噪声因子
2)当输入的光谱信号能量足够弱时,
而不使用电子倍增增益的信噪比可近似为
当输入的光谱信号能量足够低时,使用电子倍增增益功能会使信噪比提高到接近
3)根据上述两种状态下的分析,可以根据输入的光谱能量大小,选择合适的电子倍增增益,以达到输入光谱信号的最佳信噪比。对于每谱段的光谱信号(对应EMCCD的每行),根据实验目的选择是否进行电子倍增增益放大。
4 仿真与实验
4.1 曝光时间的计算
星下点的平均速度可表示为
式中:
表 1. 不同像元分辨率下的最大积分时间
Table 1. Maximum integration time at different pixel resolutions
|
4.2 入射光能量的仿真计算
采用LOWTRAN 7软件进行大气辐射传输计算,轨道高度设为400 km,望远光学系统的透过率以单片反射率96%计算,分光衍射系统的透过率按0.3计算;高入瞳辐亮度设置为60°太阳高角,地面反射率
图 3. 焦面辐照度。(a) 5 nm谱段间隔; (b) 10 nm谱段间隔
Fig. 3. Focal surface irradiance. (a) 5 nm spectral interval; (b) 10 nm spectral interval
图 4. ξ=4.5的信噪比。(a) 背照谱段间隔5 nm;(b) 前照谱段间隔5 nm;(c) 背照谱段间隔10 nm;(d) 前照谱段间隔10 nm
Fig. 4. SNR when ξ=4.5. (a) 5 nm spectral interval for back illumination; (b) 5 nm spectral interval for front illumination;(c) 10 nm spectral interval for back illumination;(d) 10 nm spectral interval for front illumination
图 5. ξ=10的信噪比。(a) 背照谱段间隔5 nm;(b) 前照谱段间隔5 nm;(c) 背照谱段间隔10 nm;(d) 前照谱段间隔10 nm
Fig. 5. SNR when ξ=10. (a) 5 nm spectral interval for back illumination; (b) 5 nm spectral interval for front illumination;(c) 10 nm spectral interval for back illumination;(d) 10 nm spectral interval for front illumination
4.3 成像实验
采用积分球、微光照度计(型号为HOTO-2000μ)按照EMVA1288(EMVA,欧洲机器视觉协会)标准进行成像参数测试,测试在不同入射焦面光照度下的信噪比。对各种颜色的打印字在弱光下成像,模拟同时对不同光谱信号的成像,并进行了信噪比测试及优化。由于积分球的光源为卤素灯,峰值波长为0.9 μm,故存在大量的红外谱线;积分球的出口采用通带频率为0.65~0.75 μm的窄带滤波片滤除红外光谱的影响。经测试,如
图 8. 较强光下不同电子倍增增益下的信噪比
Fig. 8. SNR versus electron multiplication gain under strong light
图 9. 彩色目标在不同电子倍增增益下的成像效果
Fig. 9. Imaging effects of the color target at different electron multiplication gains
5 结论
经仿真计算和实验可知,高空间和高光谱分辨率的高光谱成像的焦面辐照度,在不同季节主要受地物反射率变化的影响,一天中不同时间内主要受太阳高角变化的影响,谱段宽度决定了光谱辐射亮度的积分宽度。对于不同谱段的光谱信号的信噪比,主要受入射光谱信号辐照度、轨道高度和像元尺寸及像元分辨率决定的无像移补偿的最大积分时间、像元尺寸、量子效率、电荷转换因子、读出噪声等影响,表现出不同的信噪比。根据光生电子数的大小,选择适当的电子倍增增益,可提高微弱光谱信号的信噪比。
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