光学学报, 2016, 36 (12): 1234001, 网络出版: 2016-12-14
用于超热电子诊断的单色X射线成像技术
Monochromatic X-ray Imaging Technology for Diagnostics of Hot Electrons
基本信息
| DOI: | 10.3788/aos201636.1234001 |
| 中图分类号: | O53 |
| 栏目: | X射线光学 |
| 项目基金: | 国家自然科学基金(11375160)、科技部国家重大科学仪器设备开发专项(2012YQ120125) |
| 收稿日期: | 2016-06-30 |
| 修改稿日期: | 2016-08-03 |
| 网络出版日期: | 2016-12-14 |
| 通讯作者: | 张强强 (qiangz0521@163.com) |
| 备注: | -- |
张强强, 魏来, 杨祖华, 钱凤, 陈勇, 曹磊峰. 用于超热电子诊断的单色X射线成像技术[J]. 光学学报, 2016, 36(12): 1234001. Zhang Qiangqiang, Wei Lai, Yang Zuhua, Qian Feng, Chen Yong, Cao Leifeng. Monochromatic X-ray Imaging Technology for Diagnostics of Hot Electrons[J]. Acta Optica Sinica, 2016, 36(12): 1234001.
PDF全文
