光学学报, 2016, 36 (12): 1234001, 网络出版: 2016-12-14   

用于超热电子诊断的单色X射线成像技术

Monochromatic X-ray Imaging Technology for Diagnostics of Hot Electrons
作者单位
中国工程物理研究院激光聚变研究中心等离子体物理重点实验室, 四川 绵阳 621900
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