光学 精密工程, 2014, 22 (3): 656, 网络出版: 2014-04-24
基于硅悬臂高阶谐振的动态原子力显微镜的快速扫描
High speed scanning for dynamic atomic force microscope based on higher-order resonance of silicon cantilever
原子力显微镜(AFM) 硅悬臂梁 高阶谐振 扫描速度 Atomic Force Microscope (AFM) silicon cantilever higher-order resonance scanning speed
知识挖掘
相关论文
本文相似领域研究进展,
知识服务
本文主要研究领域论文发表情况:
48篇
16篇
3篇
1篇
本文研究领域论文发表情况(统计图):
黄强先, 尤焕杰, 袁丹, 赵阳, 胡小娟. 基于硅悬臂高阶谐振的动态原子力显微镜的快速扫描[J]. 光学 精密工程, 2014, 22(3): 656. HUANG Qiang-xian, YOU Huan-jie, YUAN Dan, ZHAO Yang, HU Xiao-juan. High speed scanning for dynamic atomic force microscope based on higher-order resonance of silicon cantilever[J]. Optics and Precision Engineering, 2014, 22(3): 656.