光学学报, 2012, 32 (10): 1031005, 网络出版: 2012-07-17   

椭偏法表征四面体非晶碳薄膜的化学键结构

Determination of Chemical Bond of Tetrahedral Amorphous Carbon Films by an Ellipsometry Approach
作者单位
中国科学院宁波材料技术与工程研究所宁波市海洋防护材料与工程技术重点实验室, 浙江 宁波 315201
基本信息
DOI: 10.3788/aos201232.1031005
中图分类号: O484.41
栏目: 薄膜
项目基金: 浙江省自然科学基金(Y4100312)、宁波市重大科技专项(2011B1016)和宁波市科技项目(2010D10015,2010A0203)资助课题。
收稿日期: 2012-04-01
修改稿日期: 2012-05-28
网络出版日期: 2012-07-17
通讯作者: 李晓伟 (lixw@nimte.ac.cn)
备注: --

李晓伟, 周毅, 孙丽丽, 汪爱英. 椭偏法表征四面体非晶碳薄膜的化学键结构[J]. 光学学报, 2012, 32(10): 1031005. Li Xiaowei, Zhou Yi, Sun Lili, Wang Aiying. Determination of Chemical Bond of Tetrahedral Amorphous Carbon Films by an Ellipsometry Approach[J]. Acta Optica Sinica, 2012, 32(10): 1031005.

本文已被 5 篇论文引用
被引统计数据来源于中国光学期刊网
引用该论文: TXT   |   EndNote

相关论文

加载中...

关于本站 Cookie 的使用提示

中国光学期刊网使用基于 cookie 的技术来更好地为您提供各项服务,点击此处了解我们的隐私策略。 如您需继续使用本网站,请您授权我们使用本地 cookie 来保存部分信息。
全站搜索
您最值得信赖的光电行业旗舰网络服务平台!