激光与光电子学进展, 2013, 50 (1): 011203, 网络出版: 2012-11-13
利用白光干涉垂直扫描法测量波片延迟量
Retardation Measurement of Wave Plates Using White-Light Interference Vertical Scanning Method
基本信息
| DOI: | 10.3788/lop50.011203 |
| 中图分类号: | O436.3;TN247 |
| 栏目: | 仪器，测量与计量 |
| 项目基金: | 浙江省眼视光学和视觉科学重点实验室省部共建国家重点实验室培育基地开放课题、江苏省“六大人才高峰”项目和苏州科技学院科研基金资助课题。 |
| 收稿日期: | 2012-08-23 |
| 修改稿日期: | 2012-09-21 |
| 网络出版日期: | 2012-11-13 |
| 通讯作者: | 王军 (wjk31@163.com) |
| 备注: | -- |
王军, 陈磊, 吴泉英, 臧涛成. 利用白光干涉垂直扫描法测量波片延迟量[J]. 激光与光电子学进展, 2013, 50(1): 011203. Wang Jun, Chen Lei, Wu Quanying, Zang Taocheng. Retardation Measurement of Wave Plates Using White-Light Interference Vertical Scanning Method[J]. Laser & Optoelectronics Progress, 2013, 50(1): 011203.
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