激光与光电子学进展, 2013, 50 (1): 011203, 网络出版: 2012-11-13
利用白光干涉垂直扫描法测量波片延迟量
Retardation Measurement of Wave Plates Using White-Light Interference Vertical Scanning Method
光学测量 波片 延迟量 迈克耳孙干涉仪 偏振干涉 白光干涉垂直扫描 optical measurement wave plate retardation Michelson interferometer polarization interference white-light interference vertical scanning
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