光学 精密工程, 2017, 25 (10): 2676, 网络出版: 2017-11-24
CMOS图像传感器光子转移曲线辐照后的退化机理
Degradation mechanism for photon transfer curve of CMOS image sensor after irradiation
基本信息
| DOI: | 10.3788/ope.20172510.2676 |
| 中图分类号: | TP212.16;O536 |
| 栏目: | 现代应用光学 |
| 项目基金: | 中国科学院西部之光重点资助项目(No.ZD201301)、 新疆维吾尔自治区青年科技创新人才培养工程资助项目(No.qn2015yx035)、 中国科学院西部之光青年博士资助项目(No.XBBS201316)、 中科院西部之光西部青年学者项目(No. 2016-QNXZ-B-2)、 中国科学院青年创新促进会资助项目 |
| 收稿日期: | 2017-06-02 |
| 修改稿日期: | 2017-06-29 |
| 网络出版日期: | 2017-11-24 |
| 通讯作者: | |
| 备注: | -- |
冯婕, 李豫东, 文林, 周东, 马林东. CMOS图像传感器光子转移曲线辐照后的退化机理[J]. 光学 精密工程, 2017, 25(10): 2676. FENG Jie, LI Yu-dong, WEN Lin, ZHOU Dong, MA Lin-dong. Degradation mechanism for photon transfer curve of CMOS image sensor after irradiation[J]. Optics and Precision Engineering, 2017, 25(10): 2676.
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