CMOS图像传感器光子转移曲线辐照后的退化机理

冯婕; 李豫东; 文林; 周东; 马林东

doi:doi:10.3788/ope.20172510.2676

光学精密工程, 2017, 25 (10): 2676, 网络出版: 2017-11-24

CMOS图像传感器光子转移曲线辐照后的退化机理

Degradation mechanism for photon transfer curve of CMOS image sensor after irradiation

冯婕李豫东文林周东马林东

作者单位

中国科学院新疆理化技术研究所材料物理与化学研究室, 新疆乌鲁木齐 830011

补充材料

冯婕, 李豫东, 文林, 周东, 马林东. CMOS图像传感器光子转移曲线辐照后的退化机理[J]. 光学精密工程, 2017, 25(10): 2676. FENG Jie, LI Yu-dong, WEN Lin, ZHOU Dong, MA Lin-dong. Degradation mechanism for photon transfer curve of CMOS image sensor after irradiation[J]. Optics and Precision Engineering, 2017, 25(10): 2676.