光电工程, 2013, 40 (7): 16, 网络出版: 2013-08-01
优化型多扫描方式原子力显微镜的研制
Multi Scan Mode Atomic Force Microscope with Improved Properties and High Applicability
多扫描方式 光束偏转法 大尺寸样品 大扫描范围 AFM AFM multi scan mode beam deflection method large-sized sample wide range scan
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