红外, 2019, 40 (7): 12, 网络出版: 2019-11-20   

液相外延碲镉汞薄膜表面的结晶类缺陷分析

Analysis of Crystalline Defects on the Surface of HgCdTe Films by Liquid Phase Epitaxy
作者单位
华北光电技术研究所,北京 100015
引用该论文

杨海燕, 侯晓敏, 胡尚正, 刘铭, 曹鹏飞, 赵硕. 液相外延碲镉汞薄膜表面的结晶类缺陷分析[J]. 红外, 2019, 40(7): 12.

YANG Hai-yan, HOU Xiao-min, HU Shang-zheng, LIU Ming, CAO Peng-fei, ZHAO Shuo. Analysis of Crystalline Defects on the Surface of HgCdTe Films by Liquid Phase Epitaxy[J]. INFRARED, 2019, 40(7): 12.

参考文献

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杨海燕, 侯晓敏, 胡尚正, 刘铭, 曹鹏飞, 赵硕. 液相外延碲镉汞薄膜表面的结晶类缺陷分析[J]. 红外, 2019, 40(7): 12. YANG Hai-yan, HOU Xiao-min, HU Shang-zheng, LIU Ming, CAO Peng-fei, ZHAO Shuo. Analysis of Crystalline Defects on the Surface of HgCdTe Films by Liquid Phase Epitaxy[J]. INFRARED, 2019, 40(7): 12.

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