像素级数字化红外探测器具有更高的性能水平和更强的抗干扰能力，是红外探测器技术发展的重要方向之一。通过突破像素级数字化读出电路设计、低峰谷碲镉汞材料外延、器件制备工艺以及倒装互连等关键技术，研制出了一种512×8像素级数字化长波红外探测器组件，并对其性能进行了测试。此探测器的响应波段为7.85～10.17 m，平均峰值响应率为1.4×1011 LSB/W，响应率非均匀性为9.13%，有效像元率为97.5%，噪声等效温差(Noise Equivalent Temperature Difference, NETD)为4.4 mK，动态范围为90.6 dB。测试结果表明，该探测器能够满足系统要求。

利用扫描电镜、能谱分析、光学轮廓仪以及金相显微镜等测试手段对液相外延碲镉汞薄膜表面缺陷的形貌、成分和断面进行了分析，并研究了不同种类表面缺陷的特征及来源。结果表明，液相外延碲镉汞薄膜表面上存在的结晶类缺陷往往尺寸较大或成片分布，对后续器件产生明显影响。通过分析其成因可以发现，母液均匀性的提升是减少该类缺陷和提高碲镉汞薄膜质量的关键。