强激光与粒子束, 2010, 22 (11): 2724, 网络出版: 2010-12-07  

Altera SRAM型FPGA器件总剂量辐射损伤及退火效应

Total-dose irradiation damage and annealing behavior of Altera SRAM-based FPGA
高博 1,2,3,*余学峰 1,2任迪远 1,2王义元 1,2,3李豫东 1,2孙静 1,2李茂顺 1,2,3崔江维 1,2,3
作者单位
1 中国科学院 新疆理化技术研究所, 乌鲁木齐 830011
2 新疆电子信息材料与器件重点实验室, 乌鲁木齐 830011
3 中国科学院 研究生院, 北京 100049
补充材料

高博, 余学峰, 任迪远, 王义元, 李豫东, 孙静, 李茂顺, 崔江维. Altera SRAM型FPGA器件总剂量辐射损伤及退火效应[J]. 强激光与粒子束, 2010, 22(11): 2724. Gao Bo, Yu Xuefeng, Ren Diyuan, Wang Yiyuan, Li Yudong, Sun Jing, Li Maoshun, Cui Jiangwei. Total-dose irradiation damage and annealing behavior of Altera SRAM-based FPGA[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2010, 22(11): 2724.

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