强激光与粒子束, 2014, 26 (7): 072005, 网络出版: 2014-06-30
提拉法SiO2化学膜厚度与折射率的变化规律研究
Changes of thickness and refractive index of silica sol-gel film by dip coating process
基本信息
DOI: | 10.11884/hplpb201426.072005 |
中图分类号: | O484.1 |
栏目: | ICF与激光等离子体 |
项目基金: | 核废物与环境安全国防重点实验室开放基金项目(10zxnk07)、 四川省教育厅自然科学青年项目(11ZB033) |
收稿日期: | 2013-09-25 |
修改稿日期: | 2014-02-24 |
网络出版日期: | 2014-06-30 |
通讯作者: | 张日东 (feilong19870726@126.com) |
备注: | -- |
张日东, 严鸿维, 吕海兵, 张尽力, 晏良宏, 赵松楠, 王韬, 雷洁红. 提拉法SiO2化学膜厚度与折射率的变化规律研究[J]. 强激光与粒子束, 2014, 26(7): 072005. Zhang Ridong, Yan Hongwei, Lü Haibing, Zhang Jinli, Yan Lianghong, Zhao Songnan, Wang Tao, Lei Jiehong. Changes of thickness and refractive index of silica sol-gel film by dip coating process[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2014, 26(7): 072005.