红外与激光工程, 2017, 46 (6): 0617004, 网络出版: 2017-07-10  

位置信息约束的SMT料盘X射线图像检测方法

Method for detecting the X-Ray images of SMT materials plates based on the constraints of position information
耿磊 1,2彭晓帅 1,2肖志涛 1,2李秀艳 1,2荣锋 1,2马潇 1,2
作者单位
1 天津市光电检测技术与系统重点实验室, 天津 300387
2 天津工业大学 电子与信息工程学院, 天津 300387
基本信息
DOI: 10.3788/irla201746.0617004
中图分类号: TP391
栏目: 光电测量
项目基金: 国家自然科学基金(61405144)、 天津市科技支撑计划重点项目(14ZCZDGX00033)、 天津市科技特派员项目(15JCTPJC56300)
收稿日期: 2016-10-05
修改稿日期: --
网络出版日期: 2017-07-10
通讯作者:
备注: --

耿磊, 彭晓帅, 肖志涛, 李秀艳, 荣锋, 马潇. 位置信息约束的SMT料盘X射线图像检测方法[J]. 红外与激光工程, 2017, 46(6): 0617004. Geng Lei, Peng Xiaoshuai, Xiao Zhitao, Li Xiuyan, Rong Feng, Ma Xiao. Method for detecting the X-Ray images of SMT materials plates based on the constraints of position information[J]. Infrared and Laser Engineering, 2017, 46(6): 0617004.

关于本站 Cookie 的使用提示

中国光学期刊网使用基于 cookie 的技术来更好地为您提供各项服务,点击此处了解我们的隐私策略。 如您需继续使用本网站,请您授权我们使用本地 cookie 来保存部分信息。
全站搜索
您最值得信赖的光电行业旗舰网络服务平台!