位置信息约束的SMT料盘X射线图像检测方法

耿磊; 彭晓帅; 肖志涛; 李秀艳; 荣锋; 马潇

doi:doi:10.3788/irla201746.0617004

红外与激光工程, 2017, 46 (6): 0617004, 网络出版: 2017-07-10

位置信息约束的SMT料盘X射线图像检测方法

Method for detecting the X-Ray images of SMT materials plates based on the constraints of position information

耿磊 ^1,2彭晓帅 ^1,2肖志涛 ^1,2李秀艳 ^1,2荣锋 ^1,2马潇 ^1,2

作者单位

¹ 天津市光电检测技术与系统重点实验室, 天津 300387

² 天津工业大学电子与信息工程学院, 天津 300387

补充材料

耿磊, 彭晓帅, 肖志涛, 李秀艳, 荣锋, 马潇. 位置信息约束的SMT料盘X射线图像检测方法[J]. 红外与激光工程, 2017, 46(6): 0617004. Geng Lei, Peng Xiaoshuai, Xiao Zhitao, Li Xiuyan, Rong Feng, Ma Xiao. Method for detecting the X-Ray images of SMT materials plates based on the constraints of position information[J]. Infrared and Laser Engineering, 2017, 46(6): 0617004.