激光与光电子学进展, 2017, 54 (12): 121202, 网络出版: 2017-12-11
残余应力对激光激发超声表面波技术检测二氧化硅体材料杨氏模量的影响 
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Influence of Residual Stress on Young Modulus Detection of SiO2 Bulk Materials by Laser-Induced Surface Ultrasonic Wave Technique
基本信息
| DOI: | 10.3788/lop54.121202 |
| 中图分类号: | TN47 |
| 栏目: | 仪器，测量与计量 |
| 项目基金: | 国家自然科学基金(61571319) |
| 收稿日期: | 2017-05-25 |
| 修改稿日期: | 2017-06-19 |
| 网络出版日期: | 2017-12-11 |
| 通讯作者: | 肖夏 (xiaxiao@tju.edu.cn) |
| 备注: | -- |
睢晓乐, 肖夏, 戚海洋, 孔涛. 残余应力对激光激发超声表面波技术检测二氧化硅体材料杨氏模量的影响[J]. 激光与光电子学进展, 2017, 54(12): 121202. Sui Xiaole, Xiao Xia, Qi Haiyang, Kong Tao. Influence of Residual Stress on Young Modulus Detection of SiO2 Bulk Materials by Laser-Induced Surface Ultrasonic Wave Technique[J]. Laser & Optoelectronics Progress, 2017, 54(12): 121202.
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