基于短相干技术的光学平板折射率测量方法

高波; 李强; 刘昂; 柴立群

doi:doi:10.3788/CJL201946.0804004

中国激光, 2019, 46 (8): 0804004, 网络出版: 2019-08-13

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Measuring Refractive Index of Transparent Plate by Low-Coherent Interference

高波 ^*李强刘昂柴立群

作者单位

中国工程物理研究院激光聚变研究中心, 四川绵阳 621900

引用该论文

高波, 李强, 刘昂, 柴立群. 基于短相干技术的光学平板折射率测量方法[J]. 中国激光, 2019, 46(8): 0804004.

Bo Gao, Qiang Li, Ang Liu, Liqun Chai. Measuring Refractive Index of Transparent Plate by Low-Coherent Interference[J]. Chinese Journal of Lasers, 2019, 46(8): 0804004.

引用列表

1、短相干半导体激光器的射频调制特性及应用红外与激光工程, 2023, 52 (4): 20220553

2、便携式高速FTIR旋转式干涉仪数值模拟仿真分析光学学报, 2021, 41 (9): 0907001

高波, 李强, 刘昂, 柴立群. 基于短相干技术的光学平板折射率测量方法[J]. 中国激光, 2019, 46(8): 0804004. Bo Gao, Qiang Li, Ang Liu, Liqun Chai. Measuring Refractive Index of Transparent Plate by Low-Coherent Interference[J]. Chinese Journal of Lasers, 2019, 46(8): 0804004.

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