基于短相干技术的光学平板折射率测量方法

高波; 李强; 刘昂; 柴立群

doi:doi:10.3788/CJL201946.0804004

中国激光, 2019, 46 (8): 0804004, 网络出版: 2019-08-13

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Measuring Refractive Index of Transparent Plate by Low-Coherent Interference

高波 ^*李强刘昂柴立群

作者单位

中国工程物理研究院激光聚变研究中心, 四川绵阳 621900

基本信息

DOI:	10.3788/CJL201946.0804004
中图分类号:	O436.1
栏目:	测量与计量
项目基金:	中国工程物理研究院项目（GFZX02050102.1）、
收稿日期:	2019-02-27
修改稿日期:	2019-04-11
网络出版日期:	2019-08-13
通讯作者:	高波 (48491061@qq.com)
备注:	--

高波, 李强, 刘昂, 柴立群. 基于短相干技术的光学平板折射率测量方法[J]. 中国激光, 2019, 46(8): 0804004. Bo Gao, Qiang Li, Ang Liu, Liqun Chai. Measuring Refractive Index of Transparent Plate by Low-Coherent Interference[J]. Chinese Journal of Lasers, 2019, 46(8): 0804004.