基于短相干技术的光学平板折射率测量方法

高波; 李强; 刘昂; 柴立群

doi:doi:10.3788/CJL201946.0804004

中国激光, 2019, 46 (8): 0804004, 网络出版: 2019-08-13

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Measuring Refractive Index of Transparent Plate by Low-Coherent Interference

高波 ^*李强刘昂柴立群

作者单位

中国工程物理研究院激光聚变研究中心, 四川绵阳 621900

引用该论文

高波, 李强, 刘昂, 柴立群. 基于短相干技术的光学平板折射率测量方法[J]. 中国激光, 2019, 46(8): 0804004.

Bo Gao, Qiang Li, Ang Liu, Liqun Chai. Measuring Refractive Index of Transparent Plate by Low-Coherent Interference[J]. Chinese Journal of Lasers, 2019, 46(8): 0804004.

参考文献

[1] Shumate M S. Interferometric measurement of large indices of refraction[J]. Applied Optics, 1966, 5(2): 327-331.

[2] Rosfjord K, Chang C, Miyakawa R, et al. Direct index of refraction measurements at extreme-ultraviolet and soft-X-ray wavelengths[J]. Applied Optics, 2006, 45(8): 1730-1735.

[3] Gillen G D, Guha S. Use of Michelson and Fabry-Perot interferometry for independent determination of the refractive index and physical thickness of wafers[J]. Applied Optics, 2005, 44(3): 344-347.

[4] 谭天亚, 易葵, 邵建达. 利用分光光度计测量光学晶体的折射率[J]. 中国激光, 2005, 32(12): 1678-1682.

Tan T Y, Yi K, Shao J D. Measurement of refractive index of the optical crystal with spectrophotometer[J]. Chinese Journal of Lasers, 2005, 32(12): 1678-1682.

[5] 孟庆华, 向阳. 高精度测量光学玻璃折射率的新方法[J]. 光学精密工程, 2008, 16(11): 2114-2119.

Meng Q H, Xiang Y. Novel high accurate measurement method for refractive index of optical glass[J]. Optics and Precision Engineering, 2008, 16(11): 2114-2119.

[6] 宋冬生, 王雷, 许荣国, 等. 石英玻璃紫外波段折射率测量[J]. 应用光学, 2011, 32(4): 705-708.

Song D S, Wang L, Xu R G, et al. Refractive index measurement for quartz glass in ultraviolet band[J]. Journal of Applied Optics, 2011, 32(4): 705-708.

[7] 孙桂林. 一种折射率测量新方法[J]. 应用光学, 1995, 16(1): 58-61.

Sun G L. A new refractive index measuring method[J]. Journal of Applied Optics, 1995, 16(1): 58-61.

[8] 魏仁选, 姜德生. 基于F-P干涉波长的折射率测量[J]. 中国激光, 2003, 30(6): 551-554.

Wei R X, Jiang D S. Refractive index measurement with Fabry-Perot interference wavelength[J]. Chinese Journal of Lasers, 2003, 30(6): 551-554.

[9] Choi H J, Lim H H, Moon H S, et al. Measurement of refractive index and thickness of transparent plate by dual-wavelength interference[J]. Optics Express, 2010, 18(9): 9429-9434.

[10] Gillen G D, Guha S. Refractive-index measurements of zinc germanium diphosphide at 300 and 77 K by use of a modified Michelson interferometer[J]. Applied Optics, 2004, 43(10): 2054-2058.

[11] 郝殿中, 吴福全, 孔伟金. 干涉法测量晶体的折射率[J]. 激光技术, 2003, 27(5): 407-408.

Hao D Z, Wu F Q, Kong W J. Measurement of refractive index of crystals with interferometry[J]. Laser Technology, 2003, 27(5): 407-408.

[12] 熊芬, 胡中文, 姜明达. 基于平行平板的折射率高精度非接触测量[J]. 应用光学, 2012, 33(1): 148-152.

Xiong F, Hu Z W, Jiang M D. Non-contact measurement of refractive index based on parallel surface plate[J]. Journal of Applied Optics, 2012, 33(1): 148-152.

[13] 薛晖, 沈伟东, 顾培夫, 等. 基于白光干涉的光学薄膜物理厚度测量方法[J]. 光学学报, 2009, 29(7): 1877-1880.

Xue H, Shen W D, Gu P F, et al. Thickness measurement of thin film based on white-light spectral interferometry[J]. Acta Optica Sinica, 2009, 29(7): 1877-1880.

[14] 马云, 陈磊, 朱文华, 等. 用于相位缺陷检测的动态泰曼干涉仪[J]. 中国激光, 2017, 44(12): 1204009.

Ma Y, Chen L, Zhu W H, et al. Dynamic Twyman interferometer for phase defect measurement[J]. Chinese Journal of Lasers, 2017, 44(12): 1204009.

[15] 邓钦元, 唐燕, 周毅, 等. 基于白光干涉频域分析的高精度表面形貌测量[J]. 中国激光, 2018, 45(6): 0604001.

Deng Q Y, Tang Y, Zhou Y, et al. High-resolution surface topography measurement based on frequency-domain analysis in white light interferometry[J]. Chinese Journal of Lasers, 2018, 45(6): 0604001.

高波, 李强, 刘昂, 柴立群. 基于短相干技术的光学平板折射率测量方法[J]. 中国激光, 2019, 46(8): 0804004. Bo Gao, Qiang Li, Ang Liu, Liqun Chai. Measuring Refractive Index of Transparent Plate by Low-Coherent Interference[J]. Chinese Journal of Lasers, 2019, 46(8): 0804004.

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