激光与光电子学进展, 2013, 50 (10): 101001, 网络出版: 2013-09-04
基于最优识别区间的变步长产品表面缺陷检测研究
Variable Step Detection of Product Surface Defect Based on Optimal Identification Interval
基本信息
| DOI: | 10.3788/lop50.101001 |
| 中图分类号: | TP391.41 |
| 栏目: | 图像处理 |
| 项目基金: | 国家自然科学基金(61171178，61171179)、山西省自然科学基金(2012011010-3)、2012年山西省高等学校优秀青年学术带头人支持计划 |
| 收稿日期: | 2013-05-12 |
| 修改稿日期: | 2013-06-22 |
| 网络出版日期: | 2013-09-04 |
| 通讯作者: | 徐青 (sizhuqingsci@163.com) |
| 备注: | -- |
徐青, 韩跃平, 杨志刚, 孙宝华. 基于最优识别区间的变步长产品表面缺陷检测研究[J]. 激光与光电子学进展, 2013, 50(10): 101001. Xu Qing, Han Yueping, Yang Zhigang, Sun Baohua. Variable Step Detection of Product Surface Defect Based on Optimal Identification Interval[J]. Laser & Optoelectronics Progress, 2013, 50(10): 101001.
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