激光与光电子学进展, 2013, 50 (10): 101001, 网络出版: 2013-09-04
基于最优识别区间的变步长产品表面缺陷检测研究
Variable Step Detection of Product Surface Defect Based on Optimal Identification Interval
图像处理 缺陷检测 最优识别区间 变步长采样 尺度不变特征变换算法 折半查找法 image processing defect detection optimal identification range variable step size sampling scale invariant feature transform algorithm Binary search method
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