激光与光电子学进展, 2013, 50 (10): 101001, 网络出版: 2013-09-04
基于最优识别区间的变步长产品表面缺陷检测研究
Variable Step Detection of Product Surface Defect Based on Optimal Identification Interval
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徐青, 韩跃平, 杨志刚, 孙宝华. 基于最优识别区间的变步长产品表面缺陷检测研究[J]. 激光与光电子学进展, 2013, 50(10): 101001. Xu Qing, Han Yueping, Yang Zhigang, Sun Baohua. Variable Step Detection of Product Surface Defect Based on Optimal Identification Interval[J]. Laser & Optoelectronics Progress, 2013, 50(10): 101001.
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