紫外工业检测光学系统设计及公差分析 下载: 670次
[1] 靳贵平, 庞其昌. 紫外成像检测技术[J]. 光子学报, 2003, 32(3): 294-297.
[2] 滕鹤松. 紫外成像技术及其应用[J]. 光电子技术, 2001, 21(4): 294-297.
[3] 靳贵平, 庞其昌. 紫外指纹检测仪的研制[J]. 光学 精密工程, 2003, 11(2): 198-202.
[4] 常振, 王煜, 司福祺, 等. 基于科学级CCD的紫外成像系统设计与实现[J]. 中国激光, 2017, 44(8): 0804002.
[5] 刘火平, 尹达一, 张荣杰, 等. 地面紫外探测高空高速再入目标分析与验证[J]. 光学学报, 2017, 37(12): 1211004.
[6] 贾辉, 石璐珊, 梁征, 等. 紫外光电探测器的发展研究[J]. 江西科学, 2017, 35(2): 296-300.
Jia Hui, Shi L S, Liang Z, et al. Research on the development of ultraviolet photodetectors[J]. Jiangxi Science, 2017, 35(2): 296-300.
[7] 于磊, 林冠宇, 于向阳. 空间高层大气遥感远紫外成像光谱仪的光学系统[J]. 光学学报, 2013, 33(1): 0122001.
[8] 韦晓孝, 许峰, 余建军. 高分辨率空间同轴偏视场三反光学系统设计[J]. 中国激光, 2012, 39(4): 0416002.
[9] 朱杨, 张新, 伍雁雄, 等. 紫外宽幅离轴四反光学系统设计及其杂散光分析[J]. 中国激光, 2015, 42(2): 0216001.
[10] Eijiroh T, Li F. Ultraviolet imaging system: US7057804B2[P]. 2006-06-06.
[11] 石恩涛, 王咏梅, 付利平. 羽流紫外辐射监视单元光学系统设计[J]. 激光与光电子学进展, 2016, 53(11): 112202.
[12] 张鸿佳, 马军, 朱海宇, 等. “日盲”紫外电晕检测变焦光学系统设计[J]. 激光与光电子学进展, 2014, 51(10): 102201.
何丽鹏, 林峰. 紫外工业检测光学系统设计及公差分析[J]. 激光与光电子学进展, 2018, 55(10): 102201. He Lipeng, Lin Feng. Design and Tolerance Analysis of UV Industrial Inspection Optical System[J]. Laser & Optoelectronics Progress, 2018, 55(10): 102201.