光散射学报, 2008, 20 (2): 186, 网络出版: 2014-01-21  

A面(11-20)ZnO薄膜中杂质的偏振PL谱研究

Impurities Study by Photoluminescence Polarization On (11-20) ZnO Film
作者单位
中国科学院半导体研究所 半导体材料科学重点实验室, 北京 100083
基本信息
DOI: --
中图分类号: TN304.2
栏目: 其它光谱技术及应用
项目基金: --
收稿日期: 2008-01-28
修改稿日期: 2008-03-26
网络出版日期: 2014-01-21
通讯作者: 周立 (zhouli2005@semi.ac.cn)
备注: --

周立, 陈涌海, 金鹏, 王占国. A面(11-20)ZnO薄膜中杂质的偏振PL谱研究[J]. 光散射学报, 2008, 20(2): 186. ZHOU Li, CHEN Yong-hai, Jin Peng, Wang Zhan-guo. Impurities Study by Photoluminescence Polarization On (11-20) ZnO Film[J]. The Journal of Light Scattering, 2008, 20(2): 186.

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