作者单位
摘要
中国科学院长春光学精密机械研究所
本文提出的光学公差优化模型可迅速地计算出结果,而不必象通常那样进行反复调整试算.目标函数是光学系统的最低制造成本.从零件加工成本与公差关系的现有统计数据拟合得到普遍表达式用于本模型.约束条件是表征像质的MTF和畸变.最后给出例子,含两个变量,用网格法解优化值.
光学学报
1986, 6(9): 854

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