1 上海激光等离子体研究所高功率激光物理国家实验室,上海,201800
2 上海激光等离子体研究所高功率激光物理国家实验室,上??201800
提出了一种单发实验测量软X射线波段多层膜反射镜反射特性的简易方法。实验采用激光等离子体软X射线源作为光源,用平焦场光栅谱仪分光,在光路中引入掠入射镜以消除高级次谱的影响,用软X光CCD记录,在一发激光打靶实验中,测量了设计中心波长为13.9nm的Mo/Si多层膜反射镜的反射特性。
Mo/Si多层膜反射镜 反射率 软X射线 激光等离子体 Mo/Si multi layer mirror reflectance soft X ray la
激光与光电子学进展
1998, 35(10): 13
采用在平焦场光栅谱仪后面分段记录光谱的办法成功地实现了软X光多层膜反射镜反射率的测量,实验观察了反射镜反射特性随入射角变化情况,同时对实验测量误差进行了分析。
软X光 多层膜反射镜 反射率
用柱面镜和球体面镜组成的消像散系统，配上平焦场光栅谱仪，制作了一台理论分辨能力25 μm，放大5倍的一维消像散谱仪，用它对类Ne锗软X光激光的增益区进行了测量，得到了与理论相符的结果。
消像散 光栅谱仪 X光激光 增益区空间分布
1 上海激光等离子体研究所, 上海 201800
2 中国科学院上海光学精密机械研究所高功率激光物理实验室, 上海 201800
3 北京应用物理与计算数学研究所, 北京 100088
用X射线连续谱仪(K边多道法)测定了宽频带激光打靶产生的等离子体的电子温度。结果表明, 两种带宽的激光打靶产生的热电子温度很相近(在420～500eV范围内);而宽带打靶产生的超热电子温度要比窄带打靶产生的低些。
