作者单位
摘要
1 百色学院 信息工程学院, 广西 百色 533000
2 广州市隆光信息技术有限公司, 广东 广州 510700
为掌握可见光室内定位系统的无线信道特征,以提高室内定位系统的抗干扰性能,建立了室内可见光定位系统信号传输的信道模型及噪声模型。在设计的照明模型下,可见光反射损耗远大于视距传播的损耗,故信道传输函数可用直流增益函数表示。仿真结果表明,定位接收器接收到的定位信号信噪比大小与照明灯分布、定位光源光功率变化以及室内定位平面相对高度等参数有关。仿真计算结果表明,不同位置的光源所发信号接收时信噪比差异明显,因此定位中对定位光源的选择很重要,会直接影响定位系统的抗干扰性能,从而影响系统的定位精度。
可见光 室内定位 信道 信噪比 visible light indoor positioning channel signal to noise ratio 
光学仪器
2017, 39(2): 64
卢洪斌 1,2
作者单位
摘要
1 嘉兴学院,浙江,嘉兴,314001
2 冠通技术有限公司,上海,200233
根据半导体激光器光注入调制理论和实验,基于不同光注入条件下的频率调制特性,提出了三种半导体激光器光频调制的具体方案.通过使用给出的光强反馈及电路控制方法,能使半导体激光器在其光频受调制期间,其输出光强的变化的范围大幅度减小.这些半导体激光器光频调制的方法用于干涉测量系统中,能极大地减小光强波动对测量精度的影响,可实现纳米级的高精度激光干涉测量.
干涉测量 注入锁定 光谱烧孔 光频调制 
光学仪器
2008, 30(2): 21
作者单位
摘要
中国科学院上海光学精密机械研究所,上海,201800
实验利用光注入多量子阱半导体激光器产生的载流子消耗和带间载流子吸收产生的交叉增益调制效应,实现波长转换,转换光的光强变化幅度与偏置电流有关.通过调节偏置电流的大小,能使转换光与注入信号光在同向和反向间进行切换.
多量子阱 半导体激光器 光强调制 交叉增益调制 
光学学报
2002, 22(5): 560
作者单位
摘要
中国科学院上海光学精密机械研究所,上海,201800
在受注入光调制的半导体激光器(LD)光强调制实验中,当LD的偏置电流置于某些值时,观察到其输出光强不随注入光强改变的实验现象.实验还观察到输出光强的幅度随偏置电流的增加而呈周期性变化.理论分析表明这是由于激活区内载流子消耗、带间载流子吸收综合作用的结果,而这些效应与腔内的模式选择、注入电流产生的热效应等过程有关.
半导体激光器 光强调制 增益调制 模式选择 
中国激光
2002, 29(4): 297
作者单位
摘要
1 中国科学院上海光学精密机械研究所,上海 201800
2 上海大学材料科学与工程学院,上海 201800
在正弦相位调制半导体激光干涉仪中,半导体激光波长随注入电流和温度漂移而产生相位测量误差,同时干涉仪的机械振动和干涉仪两臂中的空气扰动也会引入相位误差.在已有光热正弦相位调制干涉仪中引入反馈机制,有效地降低了上述误差,增强了干涉仪的抗干扰能力.使用此干涉仪测量了物体的位移,测量结果表明这种方法可以有效地提高相位的测量精度.
半导体激光器 干涉仪 光学检测 反馈控制 
光学学报
2001, 21(11): 1368
作者单位
摘要
中国科学院上海光学精密机械研究所信息光学研究实验室,上海 201800
设计了一种半导体激光干涉测量仪,可以实时测量物体的微小振动。通过信号处理电路对干涉信号进行分析,得到实际振动的振幅和频率。给出了具体的理论分析。实验结果验证了该干涉仪的实用性。
实时测量 光学检测 干涉仪 半导体激光器 
光学学报
2001, 21(5): 578
作者单位
摘要
中国科学院上海光机所 上海 201800
在光频光热调制半导体激光正弦相位调制干涉仪的基础上,提出了一种扩大其测量范围的方法,使得在保持纳米精度的前提下,测量范围由半个波长扩大为125.56μm,并讨论了进一步扩大测量范围的可能性。本方法得到了模拟计算和实验结果的很好验证。
纳米测量 光热调制 干涉仪 半导体激光器 光学检测 
中国激光
2001, 28(5): 455
作者单位
摘要
中国科学院上海光机所, 上海 201800
由光热调制半导体激光器物理模型出发,从理论上推导出半导体激光器结温变化与相关物理量的关系式,并从光热调制实验中得出光强调制同调制频率及半导体激光器偏置电流的关系,为选择半导体激光器恰当的光热调制参数,以降低光强调制干扰,从而实现纳米精度干涉测量提供重要依据。
光热调制 半导体激光器 干涉测量 光强调制 热时间常数 
中国激光
2000, 27(11): 969
作者单位
摘要
中国科学院上海光机所 上海 201800
提出了一种新型半导体激光正弦相位调制干涉仪。使用此干涉仪测量了物体的微小振动。利用光热效应调制光源波长降低了光源光强变化引起的测量误差。模拟计算和实验结果证明了此干涉仪的有用性。
半导体激光器 光热效应 干涉仪 光学检测 纳米测量 
中国激光
2000, 27(4): 367

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