鉴于数字全息表面粗糙度测量是对被记录的数字全息图进行数值重建获得相应的相位值, 将其映射为表面轮廓值后来计算表面粗糙度参数的, 分别以标准分辨率板和高度标定板为检测样本, 对构建的数字全息测量系统进行了重建误差及重复性测试, 包括横向尺寸误差及高度误差, 横向尺寸重建误差及重复误差分别为1.11%和0.61%, 高度重建误差及重复误差分别为11%和1.8%。以宽带介质膜平面反射镜为样本, 测得其3段评定长度(包含15个取样长度)的表面粗糙度平均值分别为0.010 37 μm、0.010 33 μm和0.009 67 μm。

通过分析野外采集的13个土种的不同氧化铁含量原始土样和人工配制不同氧化铁含量土样的高光谱特征, 研究了氧化铁对土壤反射率、 土壤线参数、 土壤有机质高光谱特征、 土壤反射率光谱曲线形态的影响。 研究结果表明, 随氧化铁含量的增加, 350～570 nm波段反射率降低, 570～2 500 nm波段的反射率增加, 氧化铁去除量与反射率变化量之间的相关性不明显; 氧化铁含量与土壤线斜率呈线性负相关, 与截距呈线性正相关, 且均达到极显著相关水平, 表明利用土壤线参数反演氧化铁含量具有可行性; 在622～851 nm波段, 氧化铁对有机质的高光谱特征具有明显的抑制作用; 通过去包络线和统计F值与光谱角值表明, 氧化铁对土壤反射光谱曲线形态有影响。

利用高光谱遥感技术估测土壤有机质含量是精准农业发展的必然要求.本研究测量并分析了7组不同地区不同类型共791个土壤样品在350~2500 nm的光谱反射率及一阶微分曲线，并对土壤有机质含量和光谱反射率进行相关性分析，同时对前人研究中有关有机质的光谱响应波段进行了总结.结果发现，600~800 nm波段可以作为研究区域内不同类型土壤共同的有机质光谱响应波段，这对进一步建立不同土壤类型相对统一的有机质预测模型具有一定意义.研究还发现，有机质含量高于2%并不是高光谱预测土壤有机质含量必要的前提条件.

报告了我们设计、研制的一种新型光电平板显示器.它由光平面电子源、XY扫描控制板、微通道板及荧光屏组成.实际测量了显示器发光亮度随激发电流、激发电压的变化关系.结果表明这种新型的光电平板显示器是可行的.