1 中国科学院精密测量科学与技术创新研究院,波谱与原子分子物理国家重点实验室, 湖北 武汉 430071
2 中国科学院大学, 北京 100049
3 广东大湾区空天信息研究院, 广东 广州 510535
4 长江大学物理与光电工程学院, 湖北 荆州 434023
极紫外(XUV)光梳是近些年诞生的一种相干性良好的极紫外光源,它在精密谱测量以及强场物理领域有诸多应用。在极紫外光梳的产生过程中,极紫外光的耦合输出方式决定了其耦合输出效率、光强和频谱范围,是极紫外光梳产生装置中极其重要的一环。基于自主搭建的极紫外光梳平台,分别使用布儒斯特片和微纳光栅进行极紫外光的耦合输出,均可以得到微瓦量级的谐波输出。对比这两种方法可得,微纳光栅方法最终获得的谐波功率更高,空间结构也更加理想。而布儒斯特片易于制作、安装、清洁和更换,但作为透射型元件,其引入的非线性效应不利于极紫外光梳的性能优化。该研究为搭建性能优异的极紫外光梳系统提供了重要参考。
极紫外 极紫外光梳 耦合输出方式 布儒斯特片 微纳光栅 光学学报
2022, 42(11): 1134015
1 河南理工大学测绘与国土信息工程学院, 河南 焦作 454000
2 中国人民解放军战略支援部队信息工程大学, 河南 郑州 450001
为了提高网络对高空间分辨率遥感影像多尺度建筑物的提取效果,在编码-解码网络的基础上提出了一种高效的尺度自适应全卷积网络。首先,构建多输入多输出结构,实现多尺度特征融合和跨尺度特征聚合。然后,用残差金字塔池化模块学习深层自适应多尺度特征。最后,用基于残差密集连接的聚合特征精化模块进一步处理初始聚合特征,利用不同尺度特征图的像素依赖关系提升分类精度。在差异较大的WHU航空数据集和Massachusetts数据集上的实验结果表明,相比其他方法,本方法对建筑物的提取效果较好,且训练时间和内存占用情况适中,具有较高的实用价值。
遥感 图像处理 建筑物提取 全卷积网络 残差金字塔池化 聚合特征精化 激光与光电子学进展
2021, 58(24): 2428006
河南理工大学测绘与国土信息工程学院, 河南 焦作454000
针对三维卷积网络在训练样本较少时对高光谱图像的分类精度不理想问题,提出了一种高效的基于多特征融合和混合卷积网络的分类模型。首先,对高光谱图像进行降维处理后用三维卷积层提取深层空谱联合特征。然后,引入残差连接并通过特征图连接和逐像素相加进行多特征融合,实现特征重用、增强信息传递。最后,用二维卷积层对提取的特征进行空间信息强化,实现图像分类。实验结果表明,在三个公开高光谱数据集Indian Pines、Salinas和University of Pavia中分别用标记样本的5%、1%、1%作为训练样本时,本模型的分类精度分别为97.09%、99.30%、97.60%,可以有效提升小样本情况下的高光谱图像分类效果。
图像处理 高光谱图像 多特征融合 残差连接 混合卷积网络 激光与光电子学进展
2021, 58(8): 0810010
上海理工大学 医疗器械与食品学院, 上海 200093
立体匹配, 其目的是在对两幅存在一定视差的图像进行匹配后, 获得两幅图像精确的视差图, 是计算机视觉领域的重点和难点问题。为了快速、高效地获得高精度的稠密视差图, 在充分研究了基于边缘特征的立体匹配和基于局部窗口的立体匹配两类算法的基础上, 提出了一种基于局域边缘特征的自适应立体匹配算法。首先该算法自适应地选择局部匹配窗口大小, 并计算其中相应位置的权值, 实现初次匹配, 然后再以基于边缘特征匹配获得的高精度稀疏视差图作为约束, 修正部分误匹配点, 最终获得准确、稠密的视差图。实验表明, 该算法具良好的实验结果和较大的实用价值。
图像处理 立体匹配 自适应匹配 特征匹配 image processing stereo matching adaptive matching feature matching
1 北京科技大学北京市腐蚀、 磨蚀及表面技术重点实验室, 北京 100083
2 西南技术工程研究所, 重庆 400039
在普通X射线源上进行X射线衍射断层扫描成像检测晶体材料内部缺陷的研究极少, 短波长X射线衍射仪(short wavelength X-ray diffractometer, SWXRD)相比同步辐射装置, 体积小巧、 实用和维护费用低。 在SWXRD上进行X射线衍射断层扫描时, 缺陷边界的确定直接影响成像的质量和缺陷的辨别。 采用衍射强度阈值法对测试数据进行处理, 使得缺陷边界清晰可辨。 运用Gauss函数拟合测试数据探索各种因素对阈值大小的影响, 解决阈值设定的难题。 通过研究置于铝粉中的不同直径像质计对阈值大小的影响, 发现阈值为基体强度的91%较合适。 然后测试铝板上的细缝进一步验证了阈值法对缺陷边界的改善和阈值选择的准确性。
短波长X射线 衍射层析成像 阈值法 内部缺陷 晶体材料 Short wavelength X-ray Diffraction tomography Threshold value method Internal defect Crystal materials 光谱学与光谱分析
2011, 31(6): 1712