平面光学元件的光圈数是反映光学元件面形质量的重要参数。通过分析检测原理与方法,设计了一套应用光学技术、CCD成像技术、图像处理技术与计算机软件技术的检测系统。实验表明:该检测系统具有客观性强、易操作、准确度较高等特点。
测量 条纹分析 电荷耦合器件 measurement interference fringe analysis charge-coupled device
1 中国科学院上海光学精密机械研究所, 上海 201800
2 中国科学院研究生院, 北京 100039
提出一种获取平面光学元件光圈数的方法。通过确定一幅干涉条纹图像中三块测试区域及相应的搜索区域,寻找条纹弯曲量的平均值和相应条纹间距的平均值,根据测试区域对应的权重系数,得到被测平面光学元件光圈数的最佳估计值。通过测量标准光圈并比较目视判读结果,得到最大相对误差为5%。实验结果表明,该方法提高了处理干涉条纹图像的适应性,并可替代人工目视判读干涉条纹图像。
光学检测 数字图像处理 条纹分析 检测 加权平均
Author Affiliations
Abstract
1 Shanghai Institute of Optics and Fine Mechanics, Chinese Academy of Sciences, Shanghai 201800
2 Graduate University of Chinese Academy of Sciences, Beijing 100049
A method for automatically identifying the order of fringe pattern traces is presented. It uses the simplified Otsu algorithm for obtaining the threshold, the angular scan in the range of 45 angle for searching the trace positions, and the zone search technique for identifying different traces. Experimental results show that the proposed method may reliably obtain the order of fringe pattern traces orientating from almost 45 angle to 90 angle.
数字图像处理 条纹分析 检测 100.2000 Digital image processing 100.2650 Fringe analysis 120.1880 Detection Chinese Optics Letters
2008, 6(4): 264
1 中国科学院上海光学精密机械研究所,上海 201800
2 中国科学院研究生院,北京 100039
提出了一种基于狭缝投影的位置传感技术,阐述了此技术的传感原理及其在精密定位中的应用。准直激光束照明的投影狭缝由一个透镜以掠入射角度投影在被测物体上,狭缝投影经过被测物体表面的反射和另一个透镜的成像在探测双缝上形成投影狭缝像。探测双缝放大成像在双像限探测器上,投影狭缝像透过探测双缝的光强分别被双像限探测器的两个像限所接收,通过检测双像限探测器两个像限上的光强获得被测物体的位置。实验验证了此传感技术的可行性,其位置重复测量偏差小于32 nm(1σ)。
测量 位置传感器 精密定位 投影狭缝 探测双缝
1 中国科学院上海光学精密机械研究所,上海 201800
2 中国科学院研究生院,北京 100039
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提出了一种将光弹调制器应用于偏振方向调制的方法,介绍了它的两种基本使用模式,利用琼斯矩阵对其偏振方向调制原理及其两种基本使用模式进行了分析。光弹调制器和1/4波片形成偏振方向调制器件时,光弹调制器处于两块透光轴相互垂直的1/4波片之间,且光弹调制器的振动轴分别和两块1/4波片的透光轴成±45°角,线偏振光通过此器件其偏振方向被调制。实验验证了光弹调制器组合1/4波片调制偏振方向的原理。将光弹调制器应用在偏振方向的调制中,使现有偏振方向调制技术的光谱范围扩展到了紫外波段。
光电子学 偏振 偏振方向调制 光弹调制器 1/4波片
