在神光Ⅱ激光装置上, 利用激光加热金腔产生的X射线辐射场加热Fe/Al样品, 随后用激光探针光入射Fe/Al等离子体并在90°散射方向采集散射光谱, 同时也记录下了样品的自发辐射光谱。实验观察到了清晰的散射光谱以及Fe等离子体自发辐射光谱, 诊断结果表明, Fe/Al等离子体的平均电子温度为360 eV, Fe的平均电离度为18.8。

为了满足激光等离子体X射线光谱测量的需要，提出了一种利用平面晶体谱仪记录得到的弯曲谱线来进行波长标定的新方法。传统的参考谱线法需要已知两条以上谱线的确切波长才能进行波长标定，而利用弯曲谱线可以在不知道任何谱线信息的情况下进行波长标定。通过对实验中所获得的铝等离子体Heα自发射谱线弯曲图像的分析，得到在目前所使用的谱仪条件下，该方法的波长定标精度可以达到2×10-4 nm。

同步辐射光源中的高次谐波会使透射光栅衍射效率标定精度变差。为了校正光源中的高次谐波对透射光栅衍射效率标定的影响，提出了一种光源存在弱谐波情况下的透射光栅衍射效率标定方法，通过使用谐波X射线的衍射效率修正基波衍射效率标定中谐波的影响，从而得到更为准确的透射光栅衍射效率。使用该标定方法在北京同步辐射光源上开展了透射光栅相对衍射效率标定工作。实验结果表明: 在100~800 eV存在高次谐波能段，修正后透射光栅一级与零级的相对衍射效率与理论模拟结果吻合较好，修正后光栅二级与一级的相对衍射效率更接近理论模拟结果，但与理论模拟结果仍有较大偏差，该偏差主要来源光栅较弱的二级衍射。

针对现有滤波方法无法克服CCD光斑信号的噪声去除和特征保持之间的矛盾，由图像噪声引起的随机误差成为影响光斑定位精度主要因素的问题，提出了用属性距离加权平均(ADWA)方法对光斑图像进行滤波处理的方案。根据含噪信号的属性分离信号和噪声，通过增加属性的方式来进一步缓解噪声去除与信号特征保持之间的矛盾。实验结果表明，在基于位置、幅值的二元属性距离加权平均(2-ADWA/LV)的基础上，引入“梯度”属性构成3-ADWA/LVG后对光斑信号进行滤波处理，能将光斑定位精度提高20%以上，使定位结果标准差减小到0.024 pixel。实验表明，用ADWA对光斑信号滤波，可通过挖掘和引入新的属性来进一步去除光斑信号噪声同时增强信号特征保持效果，从而为提高光斑的亚像素定位精度提供一条有效途径。

在北京同步辐射光源4B7B实验站上，采用透射光栅配X射线电荷耦合元件(CCD)的方法对单色光进行了检验，在优化高次谐波抑制方法后，开展了X射线CCD的灵敏度标定实验研究；在标定数据处理过程中，提出了等效曝光时间的概念，修正了快门开合造成的曝光时间误差。标定实验获得了100~1 500 eV能区CCD的灵敏度，补充了300~600 eV能区CCD灵敏度标定数据，验证了简化模型的正确性。

在星光Ⅱ激光装置上开展了三倍频激光与铝平面靶相互作用实验，采用平场光栅谱仪获得了铝等离子3～6 nm范围的X射线发射谱。基于准相对多组态理论，考虑组态相互作用和Breit修正，采用Cowan程序计算了铝的L壳层跃迁波长和跃迁几率，辨识了实验测量得到的铝类Li到类B的22条跃迁谱线。研究表明：识别的谱线都是L壳层的2s，2p电子跃迁到了3p，3d等, 甚至更高的壳层，其测量得到跃迁的波长与理论值最大偏差只有0.06 nm。计算得到的振子强度与其它理论结果吻合很好。