作者单位
摘要
1 中国工程物理研究院 激光聚变研究中心, 四川 绵阳 621900
2 中国科学院 高能物理研究所, 北京 100049
3 中国原子能科学研究院, 北京 102413
在北京同步辐射装置的4B7A中能X光束线上,光源能区为2.1~6.0 keV,能量分辨大于5000,高次谐波小于0.1%,光源强度大于109 光子/s。通过全能区多能点的透过率精确测量Ag样品质量厚度,然后采用Ag薄膜对单能X光子的透过率进行测量,给出了Ag薄膜在吸收边(3.4~3.9 keV)的衰减系数 。建立了Ag样品吸收边附近衰减系数同步辐射测量方法。通过不确定度分析给出衰减系数测量不确定度小于1%,填补了在该区间衰减系数的空白。
衰减系数 同步辐射 吸收边 不确定度 attenuation coefficient synchronous radiation absorption edges uncertainty 
强激光与粒子束
2014, 26(7): 074006
作者单位
摘要
1 中国工程物理研究院 激光聚变研究中心, 绵阳 621900
2 中国科学院 高能物理研究所, 北京 100039
同步辐射光源中的高次谐波会使透射光栅衍射效率标定精度变差。为了校正光源中的高次谐波对透射光栅衍射效率标定的影响,提出了一种光源存在弱谐波情况下的透射光栅衍射效率标定方法,通过使用谐波X射线的衍射效率修正基波衍射效率标定中谐波的影响,从而得到更为准确的透射光栅衍射效率。使用该标定方法在北京同步辐射光源上开展了透射光栅相对衍射效率标定工作。实验结果表明: 在100~800 eV存在高次谐波能段,修正后透射光栅一级与零级的相对衍射效率与理论模拟结果吻合较好,修正后光栅二级与一级的相对衍射效率更接近理论模拟结果,但与理论模拟结果仍有较大偏差,该偏差主要来源光栅较弱的二级衍射。
透射光栅 衍射效率 实验标定 修正谐波 transmission grating diffraction efficiency experimental calibration harmonics correction 
强激光与粒子束
2014, 26(1): 012008
朱托 1,2,*张文海 1,2杨家敏 1,2尚万里 1,2[ ... ]孙立娟 3
作者单位
摘要
1 中国工程物理研究院 激光聚变研究中心, 四川 绵阳 621900
2 中国工程物理研究院 高温高密度等离子体物理国家重点实验室, 四川 绵阳 621900
3 中国科学研究院 北京高能物理研究所多学科中心, 北京 100049
在北京同步辐射光源4B7B实验站上,采用透射光栅配X射线电荷耦合元件(CCD)的方法对单色光进行了检验,在优化高次谐波抑制方法后,开展了X射线CCD的灵敏度标定实验研究;在标定数据处理过程中,提出了等效曝光时间的概念,修正了快门开合造成的曝光时间误差。标定实验获得了100~1 500 eV能区CCD的灵敏度,补充了300~600 eV能区CCD灵敏度标定数据,验证了简化模型的正确性。
X射线电荷耦合元件 灵敏度 标定 机械快门 等效曝光时间 X-ray charge coupled device sensitivity calibration mechanical shutter equivalent exposure time 
强激光与粒子束
2011, 23(10): 2663
作者单位
摘要
1 中国工程物理研究院 激光聚变研究中心, 四川 绵阳 621900
2 中国科学院 高能物理研究所, 北京 100049
薄膜样品在实验研究领域要求样品的厚度测量精度非常高, 但由于样品质量小, 采用称重的方法, 测量精度较差。在北京同步辐射装置的中能(4B7A)和低能(4B7B)束线上(光源能区为0.1~6.0 keV, 能量分辨大于1 000), 采用材料对单能光子的透过率来确定样品的质量厚度, 通过不同能点的测量值进行不确定度分析, 提高测量精度, 降低不确定度。利用该方法开展了复合样品厚度的测量方法研究, 给出了有CH衬底的薄膜样品的厚度, 通过不确定度分析得出, 薄膜样品厚度的测量不确定度小于1%。
薄膜样品 同步辐射 厚度测量 测量不确定度 film sample synchronous radiation thickness measurement measurement uncertainty 
强激光与粒子束
2011, 23(4): 974
作者单位
摘要
1 北京工商大学 数理系,北京 100037
2 中国科学院高能物理研究所,北京 100049
光斑的绝对位置和强度是同步辐射光束线性能的重要参数,本文研制的双丝XBPM系统既可以监测束流的稳定性,又可以探测光斑的形状、光强的分布。详细介绍了该系统的物理设计思想和机械设计要求,阐述了其光学设计原理,并对局部B轨参数的调整和垂直光斑绝对位置及光斑半高全宽FWHM测量的实验过程进行了详细介绍和分析。自行研制的XBPM系统顺利地完成了对光束强度的扫描和对光斑绝对位置的信息传递任务,指导了局部B轨参数的调整。
同步辐射 束流位置监测器 双丝 synchrotron radiation X-ray beam position monitor double-wire BSRF-3B3 BSRF-3B3 
光电工程
2008, 35(6): 141

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